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Sphere-3000球面光学元件显微检测仪

上一篇 / 下一篇  2012-11-29 15:54:42


  Sphere-3000球面光学元件显微检测

  Sphere3000是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪,能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/绝对反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。

  特点:

  Ø 显微测定微小领域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域(φ60μm)

  Ø CIE颜色测定 X Y色度图,x, y, L, a, b, 饱和度,主波长等

  Ø 检测速度快 高性能探测器,能在几秒内实现重现性高的测定

  Ø 消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率

  技术参数


型号 Sphere-3000(I型) Sphere-3000(II型) Sphere-3000(III型)
检测范围 380~800nm 380~1000nm 380~1100nm
波长分辨率 1nm 1nm 1nm
相对检测误差 ﹤1% ﹤1% ﹤0.5%
测定方法 标准物比较测定
被测物再现性 ±0.1%以下
(2σ)(380nm~410nm) 
±0.05%以下
(2σ)(410nm~800nm)
±0.1%以下
(2σ)(380nm~410nm)
±0.05%以下
(2σ)(410nm~1000nm)
±0.1%以下
(2σ)(380nm~410nm)
±0.05%以下
(2σ)(410nm~1100nm)
单次测量时间 ﹤1s
精度 0.3nm
被测物N.A. 0.12(使用10×对物镜时)
0.24(使用20×对物镜时)
                                                                                
被测物尺寸 直径>1mm
厚度>1mm(使用10×对物镜时)
厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)
被测物
测定范围
约φ60μm(使用10×对物镜时)      约φ30μm(使用20×对物镜时)
设备重量 约15kg(光源内置)
设备尺寸 300(W)×550(D)×570(H)mm
使用环境 水平且无振动的场所
温度:23±5℃;湿度:60%以下、无结露,
操作系统 Windows XP, Windows Vista,Win7
软件 分光反射率、物体颜色、单层膜厚(有干涉条纹)和镀膜折射率(有干涉条纹)测定


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  • 更新时间: 2017-05-18

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