高分辩衍射仪XPert Pro MRD

X'Pert PRO MRD/XL是高级半导体材料的标准装备，用于： 高级材料科学和纳米技术，半导体材料研究和生产质量控制，可以适用各种应用，尤其适合薄膜分析，例如： 摇摆曲线分析和倒易空间Mapping， 反射率和薄膜相分析，残余应力和织构分析， X'Pert PRO MRD/ XL 满足半导体、LED、薄膜和高级工业材料的所有高分辨XRD分析需要。XL 可以满足直径达 300 mm的晶片分析，并有精密的自动晶片装载选择;XL成为薄膜生产发展的先进的分析手段，LED的业界标准。