红外显微镜测定电路板不良焊点

上一篇 / 下一篇  2009-09-20 15:38:47/ 个人分类:光谱

  • 文件版本: V1.0
  • 开发商: 来源网络
  • 文件来源: 本地
  • 界面语言: 简体中文
  • 授权方式: 免费
  • 运行平台: Win9X/Win2000/WinXP
现代化的电路板(PCB)装配使用自动化的焊接工艺,焊接过程中会产生不良焊锡点,本文介绍通过红外显微镜法分析造成不良焊锡的原因。通常波峰焊接工艺如下:将元件插入相应的元件孔中 → 预涂助焊剂 → 预烘(温度90-100oC) → 波峰焊(220-240oC) → 切除多余插件脚 → 检查。通过红外显微镜测定了不良焊点处异物的红外光谱图,由此确认该异物的化合物类型。



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