【内容简介】

上世纪九十年代以后，基于SPM的表征材料表面电学性质的技术得到了极大的发展。其主要手段有静电力显微镜，开尔文探针显微镜、导电原子力显微镜、隧穿原子力显微镜以及扫描电容显微镜等等。其应用领域包括纳米材料，纳米器件，生命科学，半导体器件，数据存储等领域。近年来，随着基于峰值力技术研发出一系列新的成像模式，使得纳米材料电学性能表征更定量、更准确。此报告将逐一介绍以上电学测量技术，还将展示电学性质测量与定量力学测量的结合，以及新的频率调制的开尔文探针显微镜。

本次报告的主要内容有：

1. Interleave扫描及抬起模式简介 2. 静电力显微镜，静电力与PFQNM联用

3. 表面电势测量，PFKPFM 4. 导电原子力，PFTUNA及扫描电容显微镜

【主讲人简介】

孙昊，博士，现负责布鲁克公司客户服务中心以及北方中国售后服务，研究兴趣为扫描探针显微镜成像原理、仪器改造以及无机纳米材料表征技术。加入布鲁克之前，北京大学获取理学博士学位，研究方向为基于扫描探针显微镜的无机纳米材料制备和表征。

教育背景

2001-2004 山东大学 理学学士(应用化学)

2005-2010 北京大学 理学博士(无机化学)

工作经历

2012-至今 布鲁克纳米表面仪器部 客户服务中心及售后服务主管

2010-2012 布鲁克纳米表面仪器部 技术支持工程师

【合作伙伴】