【报告简介】
现代科学技术中,观察、测量、分析以及操纵纳米大小的物体是一个热门的研究领域。原子力显微镜的诞生为研究者们提供了分析和操作纳米世界的“眼”和“手”。因此,自诞生以来AFM已经被广泛用于科研和工业界各领域,涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,细胞表面形态观察,生物大分子的结构及性质,生物传感器,分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。
本报告作为2014年原子力显微镜测量技术系列讲座的第一讲,主要讲解AFM的基本原理及成像模式,重点介绍成像参数调节的基本技巧,以及图像处理和分析的基本方法;让用户更好的了解AFM发展的进展及其应用,帮助AFM用户掌握获得高品质图像,获取实验数据的技巧;进一步为用户将来更深入的研究打下良好的基础。
【报告内容】
1. 影响原子力显微镜成像的主要因素
2. 成像参数优化技巧
3. 探针选择及假象识别
4. 常见成像问题的处理方法
【主讲人简介】
孙昊,1982年出生,男,现任布鲁克中国客户服务中心及北方中国售后服务主管。2010年毕业于北京大学化学与分子工程学院,获得理学博士学位。博士期间主要从事基于原子力显微镜(AFM)的无机纳米材料的制备和表征方法研究;毕业后主要从事AFM应用及技术支持;具有长达9年的AFM使用及维修经验。
【合作伙伴】
【内容简介】 原子力显微镜(AFM)被广泛用于科研和工业界各领域,涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,细胞表面形态观察,生物大分子的 ......
该讲座重点介绍原子力显微镜各种成像模式的参数设定及其对成像质量的影响,重点讲解Tapping模式和PeakForce Tapping模式的力控制以及高分辨成 ......
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