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寿命测量仪

  • 创建者: fjirsm.cas
  • 创建时间: 2010-02-15 23:34:41
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日志(1)

  • WT-1000B 单点少子寿命测试仪

    fjirsm.cas 发表于 2010-02-15 23:31:45

      少子寿命是描述半导体 材料特征方程的基本参数之一,对器件特性的精确描述起着重要作用,特别是对以PN结为基本结构的器件,额外载流子的产生与复合在PN结的状态转换过程中起着决定性的作用,因而少子寿命是决定PN结...