原子荧光光谱法测定电子电气产品中铬_VI_的方法研究

上一篇 / 下一篇  2009-03-17 04:14:06/ 个人分类：原子荧光

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摘 要 应用原子荧光光谱法测定电子电气产品中铬(Ⅵ)的含量，可适应RoHS 中各种复杂样品的检测以及改善样品消解等诸多实际问题。其相对标准偏差(RSD):2.03%；检出限：0.064 6mg/L；线性范围宽，校准曲线的线性相关系数应大于0.999 等。有效地将铬(Ⅵ)、铬(III)分离，并有效地消除基体干扰等，完全能够适应电子电气产品中铬(Ⅵ)的测定。



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TAG: 光谱法原子荧光电子电气铬

 

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