AccuTOF DART 系统的峰形校正和分子式测定
上一篇 /
下一篇 2008-06-19 10:59:56
- 文件版本: V1.0
- 开发商: 本站原创
- 文件来源: 本地
- 界面语言: 简体中文
- 授权方式: 免费
- 运行平台: Win9X/Win2000/WinXP
结合创新的大气压离子化技术和高分辨飞行时间(TOF)质谱的AccuTOF DART系统,是未知化合物识别的有利工具。尽管系统具有相对较高的质量准确度,但仅仅依靠质量准确度用于分子式筛选,很难得到唯一的分子式。MassWorks sCLIPS的峰形校正能大大提高仪器唯一识别未知物的能力,而且在存在干扰的情况下不需要额外校正也能很好识别。
下载提示:
1.您还没有登录,只有登录后才可以下载此资源,
,
2.如果您还没有注册,请
3.下载不减少用户积分。
本地下载链接
- 下载地址:5
您还没有登录,不能下载此内容,请
,如果您还没有注册,请
收藏
分享给好友
推荐到圈子
管理
举报
TAG: