安捷伦离子淌度 Q-TOF 质谱系统技术概述
安捷伦离子淌度 Q-TOF 质谱系统
• 提供额外维度的分离
• 对碰撞截面进行直接精确测量
• 保留了分子构象的结构特征
• 扩展了对复杂样品的覆盖率
【引言】
Agilent 6560 离子淌度四极杆飞行时间 (IM-QTOF) 液质联用 (LC/MS) 系统，能够在没 有同类型校正标准品的情况下，实现高效的离子淌度测量和非常精准的碰撞截面（CCS 或 W）测量。安捷伦离子淌度装置在均匀的低电场条件下运行，因此可将离子的漂移时 间信息直接转化为碰撞截面信息。该仪器采用创新的离子漏斗技术，显著增加了进入质 谱仪的离子数量，从而能够在痕量水平上获得更高质量的 MS/MS 质谱图。
Agilent IM-QTOF 系统是市场上首款匀场离子淌度系统，与 Agilent 1290 UHPLC 联用后， 可有效结合液相色谱 (LC)、IM 和质谱 (MS) 技术的分离能力和选择性。离子淌度测量提 供的另一维分离和结构信息，可加快从事前沿研究实验室的研究进程，并使其对化合物 鉴定更有信心。该仪器是目前市场上唯一一款漂移管离子迁移高分辨（淌度和质量） LC/MS 系统，可同时提供高灵敏度和精确的碰撞截面测量。
Agilent IM-QTOF 系统 Agilent IM-QTOF 系统具有以下特点：
• 离子淌度的分辨率大于 60
• 无需校正标准品即可自动计算准确的碰撞截面 (~ 1%)
• 对痕量化合物具有高灵敏度
• 强大的数据浏览和挖掘工具
操作说明
如图 1 所示，安捷伦离子淌度系统由前端漏斗、捕集漏斗、捕集门和后端漏斗组成，后者通过一个六极杆与 Q-TOF 质量分析器相连。前端漏斗在高压下工作，该漏斗的 DC 和RF 电压推动离子向捕集漏斗运动。前端离子漏斗的主要功能是富集样品离子并去除多余的气体。
电喷雾过程产生的连续离子束，在进行离子淌度分离之前被转换成脉冲离子束。捕集漏斗首先保存离散的离子包，然后将其释放到漂移池中。
离子在通过离子淌度池的过程中，根据其大小和电荷得到分离。与碰撞截面小的离子相比，碰撞截面大的离子与漂移气体分子发生碰撞的次数更多。因此，大离子在漂移管中的运动速度比小离子慢。另外，高电荷态离子与低电荷态离子相比，前者获得了更大的电场力，因此其运动速度更快。该仪器的漂移池在低电场限制条件下工作，可产生精确的化合物结构信息。在低电场条件下，淌度与电场无关，而是与分子的结构及其与缓冲气体的相互作用相关。
离开漂移管的离子被后端离子漏斗再次聚焦，然后进入六极杆离子导向器。
