200kV透射电子显微镜 Tecnai G2 20透射电子显微镜

对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料的非常有效的技术。它能够产生很多的信号, 这些信号携带了不同类型的有用信息。Tecnai G2 20经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场/暗场图像、STEM图像、电子衍射和详细的微观分析有机的结合起来, 使Tecnai G2 20成为材料分析研究的重要仪器。Tecnai G2 20可以根据不同用户的配置要求供货。标准型仪器提供了已被证实的多项先进技术: 既可得到高分辨图像又保持高倾角(最大40°)的S-TWIN物镜, 提供样品精确控制和机械稳定性优异的CompuStage样品台。Tecnai G2 20可以安装完全集成式设计的数字化的STEM(透射扫描附件)、EDX(能谱仪)和能量过滤或PEELS(能量损失谱)。这些技术可结合起来完成频谱分布和频谱图像的分析工作。Tecnai G2 20为材料分析研究用户提供了稳定性、操作方便性和高性能的优异组合。无论是在常规分析, 还是亚微米研究, Tecnai G2 20都能够满足日益增多的样品数量。