技术特点及其优势
离子淌度(ion mobility，IM)，又称离子迁移率，是指在电场强度为1 V/m或电场力为1N时正离子或负离子的运动速度，单位为m/V。在IMS中，离子在电场力加速的作用下向前运动，在运动中与淌度管（漂移区域）内的缓冲气体（常用的气体是氮气）发生碰撞并产生阻力，受到的阻力越大，离子在淌度管内的漂移时间(Drift Time)越长，每个离子由于漂移时间的不同而实现分离。因此，就像通过液相分离可以得到化合物的保留时间一样，通过淌度分离后，可以得到每个离子的漂移时间。离子漂移时间的大小与离子的质荷比、离子带电荷的数目和离子的三维结构有密切的关系。离子的质荷比越大，在淌度管内的漂移时间越长；相同质荷比的离子，带电荷数目少的离子在淌度管内的漂移时间越长。相同质荷比的离子且带电荷数数目相同，结构越舒展的离子在淌度管内的漂移时间越长（如图1所示）。在高分辨质谱上面使用淌度技术，可实现在保留时间、荷质比基础上的另一位分离。实现包含Intensity、Retention time of LC、m/z 、Drift time (CCS) 的4维数据的分离。
通过离子的漂移时间，经过软件处理后，可以得到每个离子与淌度管内气体的碰撞衡截面积CCS（Ｃollision Cross Section）。离子的CCS值离子的物理常数，相同的化合物，其CCS值不受保留时间和基质影响，因此，CCS值可以做为离子的定性参数。此参数可用于目标化合物的筛查或未知化合物的鉴定等。 沃特世拥有两款包含离子淌度技术的高分辨质谱仪：
a) 经典款 — SYNAPT系列淌度高清质谱
淌度池与碰撞池为一体，位于四极杆质量分析器的后面，其整个淌度池处于稳定的高真空状态，可通过前面的四极杆先选择离子后再进行淌度分离，使用TRIWAVE技术，由Trap-Ion Mobility Separation-Transfer三部分组成，使用更灵活，使用于科学研究，可自主设定更多参数，实现更多功能。如通过淌度池实现TAP功能，即可得到目标离子及其二级碎片的碎片(三级碎片) ,可用于精细结构解析及结构确认。目标离子在trap打碎后产生的二级碎片(包括目标离子) 经过IMS(淌度分离) 后,进入transfer后进一步打碎, 进而得到二级碎片(包括目标离子) 的碎片。另外，可使用不同的淌度气体实现不同的分离效果，如使用氮气或者二氧化碳等。
b) 用于常规分析 — VION IMS QTof
Vion IMS QTof 将淌度技术常规化，通过特定的硬件和软件的设计，使淌度质谱使用起来更简单，可用于常规化合物的检测。
Vion 仍使用TRIWAVE技术，但淌度池由Trap-Ion Mobility Separation两部分组成，并位于四极杆的前端，使得一级离子即可进行淌度分离，且在淌度池内使用沃特世专利技术确保淌度池内压力非常稳定，可获得稳定的质量数和CCS值。
