李展平 

清华大学分析中心  高级工程师

个人简介

李展平博士1979-1983年就读于广州中山大学物理系,获理学学士;1983-1986年就读于清华大学,获工学硕士;2004-2005年在日本东北大学,获博士学位。1986年6月-1991年4月留校任职于清华大学无线电电子学系,任助教、助理研究员。1991年6月-2005年12月赴日本ULVAC-PHI 株式会社表面分析室工作,历任俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱(XPS)、二次离子质谱(SIMS)分析实验室主事(专家)。2006年1月至今被人才引进至清华大学分析中心,任高级工程师。目前主要利用AES、XPS、SIMS等表面分析技术从事固体材料表面分析、结构表征等研究。已发表学术论文四十多篇。


线上讲座
  • 20210520 未知材料的剖析和逆向研发的分析检测技术

    时间:2021-05-20 09:30 - 2021-05-20 12:00

    关键词:

    会议描述:进行材料初步判断,然后再根据材料种类选择相应的成分鉴定。如果是不同材料种类的混合物,有可能需要进行物相分离。对目标产品进行逆向分析及研究,从而演绎并得出该产品的处理流程、组织结构、功能特性及技术规格。逆向工程产品设计就是根据已经存在的产品,反向推出产品设计数据的过程。 本次研讨会,分析测试百科网将邀请行业专家,与大家共同探讨未知材料的剖析和逆向研发的分析检测技术,希望能对行业内工作者带来帮助和启发