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安东帕XRDynamic 500自动化多用途粉末 X-射线衍射仪

高效率推动无与伦比的 XRD 数据质量。尽享囊括各种应用的多功能平台所带来的优势,为粉末 XRD、非环境 XRD、PDF 分析、SAXS 等提供最佳解决方案。

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U型管数字密度标准推动最佳贡献奖

便携双波长拉曼光谱仪

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参考报价: 面议 型号: XRDynamic 500
品牌: 安东帕 产地: 奥地利
关注度: 996 信息完整度:
样本: 典型用户: 1个
仪器种类小角散射仪
发生器功率高达 3 kW最小步进角度0.0001°
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

XRDynamic 500 能以最高效率推动无与伦比的 XRD 数据质量。尽享囊括各种应用的多功能平台所带来的优势,为粉末 XRD、非环境 XRD、PDF 分析、SAXS 等提供最佳解决方案。  使用直观,具有全自动光学和校准程序,它能使每个人从新手变为专家,在最大限度减少误差的同时快速收集顶级质量的 XRD 数据。

  • 开箱即用:一流的分辨率/信噪比

  • TruBeam™ 理念:更大的测角半径,真空光路

  • 完全自动化:X-射线光学和光束几何结构变化

  • 效率:仪器使用率提高 50%

  • 自校准:仪器和样品最大便捷性

XRDynamic 500 的 TruBeam™ 理论结合了大测角半径、真空光路和全自动 X-射线光学/光束几何结构变化。借助具有优化工作流程的直观软件,使用各种仪器配置测量一系列样品。采用标准 Bragg-Brentano 配置,实现了一流的分辨率 (LaB₆ 第一个标准峰的 FWHM < 0.021° )。出色的信噪比,测量背景减少50% 以及最低的寄生空气散射。快速重新配置以进行优化的非环境 XRD 实验或有着专用 SAXS 仪器质量的 SAXS 测量。

优势

XRDynamic 500 的 TruBeam™ 理论结合了大测角半径、真空光路和全自动 X 射线光学/光束几何变化。借助具有优化工作流程的直观软件,使用各种仪器配置测量一系列样品。采用标准 Bragg-Brentano 配置,实现了一流的分辨率 (LaB₆ 第一个标准峰的 FWHM < 0.021° )。出色的信噪比,测量背景减少 50% 以及更低的寄生空气散射。快速重新配置以进行优化的非环境 XRD 实验或有着专用 SAXS 仪器质量的 SAXS 测量。

更大限度地减少您的工作量

多光束

https://www.antpedia.com/video/4400.html 

  • 只需点击一下,即可在多达 3 种光束几何之间进行切换

  • 在没有用户干预的情况下,按顺序依次运行不同的测量

  • 节省时间:提高仪器使用率达50%

挑战

在许多衍射仪中,每个测量光学几何结需要用户更换部件。只有在打开仪器手动更改配置后,才能依次执行两种完全不同类型的测量。

解决方案

借助电动光学堆栈,单击按钮即可在多达 3 种光束几何之间切换(适用于所用任何类型的 X-射线管)。其独特的源倾斜轴使得每个几何结构都能精确且自动地校准。

优势

自动切换多达 3 种光束几何,使其能够在不同(或相同)的样品上连续进行完全不同类型的测量,无需更换部件或任何用户输入。在通宵和周末运行复杂的测量批次而无需任何用户干预,享受到仪器正常运行时间高达 50% 的增加。


自动化光学系统

https://www.antpedia.com/video/4401.html 

  • 所有光学元件的自动化

  • 效率更高,错误更少

  • 为每个用户提供高质量数据

挑战

选择正确的光学元件通常意味着更换组件并在测量软件中手动更新测量配置。这很耗时,可能会导致错误,并且需要监督或对更多缺乏经验的用户进行广泛培训,以定期收集高质量的 XRD 数据。

解决方案

光路中所有光学组件的完全自动化,只需点击即可更改仪器配置。无需实际更换部件或用户干预。

优势

自动切换到正确的光学元件并始终识别当前配置,节省时间并减少用户出错的机会。即使对于刚接触 XRD 的用户来说,其测量设置也非常直观且直接。


自动校准

https://www.antpedia.com/video/4402.html 

  • 仪器自校准,无需上门服务

  • 每次测量配置的完美自动校准

  • 每个样品自动校准

挑战

衍射仪的校准,尤其是 X-射线光学元件的校准,需要专业知识,甚至需要上门服务。对于缺乏经验的用户来说,样品校准同样也很困难。

解决方案

全自动仪器校准程序允许随时执行仪器自校准。自动样品校准程序可用于每个样品。

优势

取消上门服务,并让仪器自对齐。确保仪器(和样品)始终完美校准以获得更佳质量的数据,更大限度地延长正常运行时间并降低拥有成本。


使用直观

https://www.antpedia.com/video/4403.html 

  • 直观、优化的测量工作流程

  • 初学者和专家皆可轻松上手

  • 减少用户培训时间

挑战

传统的衍射系统通常是由多个组件组成的复杂阵列,这对新手用户来说可能会令人望而生畏。有经验的用户可能也需要花费大量时间来制定测量计划和仪器配置,这分散了重要任务的注意力。

解决方案

利用智能自动化,XRDynamic 500 和 XRDdrive 控制软件将简单的仪器操作和直观的工作流程完美的结合,细节更是多少由心,自由选择。

优势

享受简化的工作流程,更大限度地发挥 XRDynamic 500 自动化的优势。指导用户完成测量的软件能够帮助专家和新手按照自己的意愿工作,同时始终能够信赖其一流的数据质量。


卓越的数据质量

TruBeam

https://www.antpedia.com/video/4404.html 

  • 在全新的光束理念下,每次都能提供完美的光束

  • 一流的数据质量

  • 更高测量效率

挑战

您如何确保始终能获得更佳光束和仪器配置,而不会牺牲数据质量或测量时间?

解决方案

其独特的 TruBeam™ 理念将 Primux 3000 X-射线源、大测角仪半径和真空光学元件、自动切换的光束几何和光学元件配置,以及自动的仪器和样品校准整合成一个体。

优势

每位用户都能为每个样品实现出色的测量性能,并从更高的分辨率、更多选择和更高的效率中获益。


出色的分辨率

https://www.antpedia.com/video/4405.html 

  • 测量分辨率提高 20 % 以上

  • 即时可用的卓越分辨率 - 无需昂贵的光学元件

  • 标配大测角半径

挑战

许多衍射仪能提供 240 - 300 mm 的测量半径,这会限制在不使用昂贵的光学元件的情况下实现的最大分辨率。否则就必须牺牲其强度。

解决方案

XRDynamic 500 标配了更大的测角仪半径 360 mm 或 400 mm,具有真空光学元件和更小的探测器像素尺寸。

优势

与传统衍射仪相比,由于采用真空光路,与标准 Bragg-Brentano 测量相比,XRDynamic 500 能够在不影响测量强度的情况下提高 20% 测量分辨率。


最高信噪比

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  • 无与伦比的信噪比

  • 减少50%的测量背景

  • 消除空气散射的影响

挑战

为了获得好的信噪比,从而获得出色的数据质量,通常必须以较长的计数时间进行测量。

解决方案

真空光学元件的优势在于能够阻止寄生空气散射,可选择从光源到探测器的完全真空光路。

优势

将测量背景减少 50 % 并得益于无与伦比的信噪比,能够获得更佳质量的数据和更短的测量时间。


测量速度

https://www.antpedia.com/video/4406.html 

  • 高样品通量和出色的数据质量

  • 高强度测量模式

  • 通过智能自动化加快工作流程

挑战

对于许多仪器来说,数据质量是以牺牲测量速度为代价的。

解决方案

得益于 TruBeam™,无论何种测量配置,XRDynamic 500 都能提供出色的数据质量和主光束强度。此外,还包括各种工作流程的自动化,例如更改仪器配置和校准程序。

优势

在不牺牲数据质量的情况下减少测量时间以提高样品通量。智能自动化意味着需要坐在仪器前的时间更少,有更多时间专注于更重要的事情。


优质组件

X-射线源

https://www.antpedia.com/video/4407.html 

  • 强大的 Primux 3000 光源非常适合 XRD 和 SAXS

  • 在几分钟内更换 X-射线管

  • 在所有状况下实现更高主光束强度

挑战

始终让 X-射线管阳极保持更佳状态并不容易,因为更换 X-射线管通常很复杂。此外,使用不同的 X-射线光学元件时,由于光源与光学元件的次优校准,必将牺牲主光束强度。

解决方案

Primux 3000 X-射线源的智能设计允许在需要时快速更换 X-射线管。每种光源和光学元件的组合都可以自动校准。

优势

从光源上解决样品荧光等问题。更换 X-射线管,自动校准,并在15分钟内用新的波长再次测量。利用每个测量几何的精确校准,始终获得更高的主光束强度。


X-射线光学元件

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  • 高强度多层光学元件

  • 平行和聚焦光束几何

  • 单色器最大化信噪比

挑战

对于某些样品或应用,需要光束整形光学元件(平行或聚焦光束)。此外,可能还需要单色器来抑制 Kβ 峰值并减少测量背景。

解决方案

各种多层单色器、平行光束和聚焦光学元件均可安装在电动光学元件堆栈中,只需单击一下即可选择。通过优化的出射角度,实现了每个光学元件的精确、自动校准。特殊Ni/C多层光学元件为 Cu 和 Co 源提供了固有的 Kβ 过滤。

优势

利用所有光学元件获得更高的强度,减少测量时间。卓越的信噪比和出色的分辨率能够确保数据的最高质量。


探测器

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  • 0D 或 1D 模式的最新像素探测器技术

  • 像素尺寸小,分辨率高

  • 能量过滤

挑战

高质量的 XRD 数据需要能够提供出色分辨率和信噪比的探测器。

解决方案

Pixos 探测单元基于 Advacam 的尖端光子计数技术,可在 0D 或 1D 模式下进行测量。XRDynamic 500 可选择 Si 或 CdTe 传感器以覆盖所有波长、有效的能量过滤,以及市场上更小的像素尺寸 (55 µm x 55 µm)。

优势

与 XRDynamic 500 更大的测角半径相结合,其探测器的小像素尺寸提高了每个波长的更大测量分辨率。Pixos 探测单元还提供了出色的能量分辨率(具有智能能量过滤)、线性度和效率。


灵活性

样品台

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  • 应对各种应用的灵活性

  • 高通量的换样器

  • 出色的位置稳定性

挑战

在处理不同的应用需求时,要取决于是否有合适的样品台可用。

解决方案

多功能样品台可实现粉末或固体样品的反射和/或透射测量,并且有换样装置可供选择。

优势

可以使用各种样品台测量不同的样品类型。组件识别允许每个样品台以即插即用模式工作,以便快速精通所有应用。


样品架

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  • 多种样品架

  • 适用于所有样品类型的解决方案

  • 适用于弱散射和敏感材料的优化样品支架

挑战

真正的多功能衍射仪需要应对所有类型的样品需求。

解决方案

一系列样品架 意味着每种类型样品 — 粉末、固体、薄膜、纤维、凝胶、糊状物或液体,都有一个可用的样品架 。

优势

始终使用适合于手边样品在反射或透射模式下的更优化样品架无论是有机还是无机,甚至对空气或湿气敏感的样品,XRDynamic 500 都能提供解决方案。


非环境 XRD

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  • 非环境 XRD 更加简便

  • 样品台即插即用功能

  • 所有样品台内置温度控制单元 (CCU)

挑战

设置非环境 XRD 实验可能既复杂又耗时。通常,需要将许多电缆和管子送入仪器外壳内,以连接外部控制单元。

解决方案

享受非环境样品台的即插即用功能,该功能具有单独内置 CCU 控制单元,可与所有 Anton Paar 的非环境样品台配合使用。得益于仪器外壳中的便捷连接,适用于所有的非环境需求。

优势

XRDynamic 500 使非环境实验与执行任何其他测量一样简单,因此您可以立即重新配置为非环境配置。内置 CCU 减少了杂乱无章,避免了不同非环境附件需要多个控制单元的问题。


SAXS

https://www.antpedia.com/video/4408.html 

  • 具有独立仪器质量的 SAXS 数据

  • 从光源到探测器的完全真空光路

  • qmin 低至 0.05 nm⁻¹

挑战

衍射仪上的小角 X-射线散射 (SAXS) 测量通常只能提供质量有限的数据。如需真正高质量的 SAXS 测量,则 需要专用仪器 。

解决方案

XRDynamic 500 与 EVAC 模块 相结合,能够提供完全真空的光路和专用的 SAXS 光学元件,以实现 0.05 nm⁻¹ 的 qmin。 

优势

在衍射仪上进行真正的 SAXS 测量而获益。只需一台仪器即可提供更高质量的 XRD 和 SAXS 数据。

关键功能

多种类型样品台,应用更灵活

多种类型样品台,应用更灵活

XRDynamic 500 样品台种类齐全,涵盖了广泛的样品类型和应用领域,为您的工作提供了更大的灵活性。样品台可以安装在 XRDynamic 500 的 Z 台上,以进行精确的样品校准,因此每个样品,从简单的无机粉末混合物到较复杂的有机材料,甚至是纳米材料,都可以更佳的方式进行研究。环境样品台组合包括:

  • 反射或透射旋转样品台

  • 毛细管旋转台

  • 适用于固体样品的 XY 台或多达可容纳 12 个样品的换样器选项

  • 适用于 SAXS 和高分辨率 XRD 测量的EVAC 模块 ,具有完全真空的光路

Anton Paar 领先的非环境 XRD 附件对样品台组合进行了补充,该附件提供了市场上范围更广的非环境规格。 

适用于高通量测量的换样器选项

适用于高通量测量的换样器选项

XRDynamic 500 XY 台的换样器可以提供 3、6 或 12 个样品位置,可以在反射或透射模式下进行测量。其允许进行高通量分析,并且结合了 XRDynamic 500 的自动光学元件,可以使用不同的仪器配置和不同的样品类型自动进行测量,无需任何用户交互。 

用于动态现场原位条件下电池测量的样品架

用于动态现场原位条件下电池测量的样品架

用于在透射或反射几何形状中对软包电池和纽扣电池进行原位或动态现场原位测量的样品架,能够助您完成复杂的电化学测量,同时可从 XRDynamic 500 的高质量数据和高度自动化获益。对于动态现场原位条件下的测量,可以使用具有不同测量配置的电化学电池。

适用于任何应用的样品架

适用于任何应用的样品架

由不锈钢或 PMMA 制成的标准粉末样品架具有多种样品腔尺寸可供选择,以满足反射或透射条件下的大量或少量样品操作。此外,根据样品和应用的要求,可使用背载、零背景和气密样品支架以及用于固体/颗粒的样品支架。 

技术规格

X 射线源
光源类型Primux 3000
X 射线发生器高达 3 kW
光管电压 / 电流20 kV 至 60 kV / 2 mA 至 50 mA
测角仪
配置垂直 Theta/Theta 几何结构
测量半径360 或 400 mm
最大可用角度范围-95° - 162.5° 2theta
最小步长0.0001°
2theta 线性度≤0.01°
最大角速度15°/sec
最大角分辨率0.021°(LaB₆ 第一个标准峰的 FWHM)
样品台和附件
环境样品台固定样品台
样品旋转台(反射/透射)
XY 台(带自动进样器选项)
毛细管旋转台
EVAC 模块
非环境附件HTK 1200N
HTK 16N/2000N
TTK 600
XRK 900
CHC plus⁺
BTS 150/500
探测器固态混合像素探测器:
  • Pixos 1000 探测器(0D 模式)

  • Pixos 2000 探测器(0D 和 1D 模式)

  • 用于高能 X 射线的 Pixos 2000 CdTe 探测器(0D 和 1D 模式)

软件
  • XRDdrive:系统控制和数据采集软件

  • XRDanalysis:用于定性和定量相分析、微观结构分析和结构精修的数据处理和分析软件

一般规格
尺寸(宽 x 深 x 高)1350 mm x 1160 mm x 1850 mm
重量(不包括选配件)750 kg
电源三相:3/N/PE AC 400/230 V,50…60 Hz,25 A
单相:208…240 VAC,50…60 Hz,36 A
最大功耗
(不带选配设备附加控制器)
5.5 kW
循环冷却水供水流量:> 3.6 L/min,   压力:4.5 – 6 bar,温度:< 25℃


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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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