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原子荧光光谱仪(AFS)
天瑞仪器AFS200系列原子荧光光谱仪
仪器介绍AFS200系列双道原子荧光光谱仪是天瑞仪器公司集多年技术积淀,为用户精心打造,具备完全自主知识产权的分析仪器。广泛应用于汞(Hg)、砷(As)、锑(S......
能量色散X荧光光谱仪
性能特点专业贵金属检测、镀层厚度检测任意多个可选择的分析和识别模型内置信噪比增强器有效提高仪器信号处理能力25倍以上智能贵金属检测软件,......
X荧光镀层测厚仪
技术指标型号:Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀(U)。同时可以分析30种以上元素,五层镀层。......
天瑞仪器AFS200T原子荧光光谱仪
性能优势 1、火焰适时观察 仪器内置火焰适时观察装置,淘汰了火焰观察窗的老式设计,使火焰观察变得自动化,测量过程中无须操作仪器即可观察火焰状态,降低了引入外界干......
AFS200系列原子荧光光谱仪
仪器介绍 AFS200系列双道原子荧光光谱仪是天瑞仪器公司集多年技术积淀,为用户精心打造,具备完全自主知识产权的精密分析仪器。广泛应用于汞(Hg)、 砷(As)......
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原子荧光光谱仪利用惰性气体氩气作载气,将气态氢化物和过量氢气与载气混合后,导入加热的原子化装置,氢气和氩气在特制火焰装置中燃烧加热,氢化物受热以后迅速分解,被测......
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原子荧光光谱是1964年以后发展起来的分析方法。原子荧光光谱法是以原子在辐射能激发下发射的荧光强度进行定量分析的发射光谱分析法。但所用仪器与原子吸收光谱法相近。......
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原子荧光光谱法是以原子在辐射能激发下发射的荧光强度进行定量分析的发射光谱分析法。根据荧光产生机理的不同,原子荧光的类型达到十余种,但在实际分析中主要有:处于基态......
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原子荧光光度计分为色散型和非色散型两类。两类仪器的结构基本相似,差别在于非色散仪器不用单色器。色散型仪器由辐射光源、单色器、原子化器、检测器、显示和记录装置组成......
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物质吸收电磁辐射后受到激发,受激原子或分子以辐射去活化,再发射波长与激发辐射波长相同或不同的辐射。当激发光源停止辐照试样之后,再发射过程立即停止,这种再发射的光......
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发射的荧光强度和原子化器中单位体积该元素基态原子数成正比,式中:I f为荧光强度;φ为荧光量子效率,表示单位时间内发射荧光光子数与吸收激发光光子数的比值,一般小......
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原子荧光光谱法是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下产生的荧光发射强度,来确定待测元素含量的方法。气态自由原子吸收特征波长辐射后,原子的外层电子从基态或低能......
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辐射光源用来激发原子使其产生原子荧光。可用连续光源或锐线光源,常用的连续光源是氙弧灯,可用的锐线光源有高强度空心阴极灯、无极放电灯及可控温度梯度原子光谱灯和激光......
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K层电子被击出时,原子系统能量由基态升到K激发态,高能级电子向K层空位填充时产生K系辐射。L层电子填充空位时,产生踟辐射;M层电子填充空位产生Kβ辐射。原子受......
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在有些情况,如:印刷线路板上的IC导线,接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言,测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求:1.不破坏的测量下具高精密度。2.极小......
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特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后,即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电......
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x荧光测厚仪的原理:若一个电子由轨道游离,则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置,以达到稳定的状态,此种不同能阶转换的过程可释放出能量,即X-射线。因为各元素的每......
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根据荧光谱线的波长可以进行定性分析。在一定实验条件下,荧光强度与被测元素的浓度成正比。据此可以进行定量分析。 原子荧光光谱仪分为色散型和非色散型两类。两类仪器的......
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原子荧光可分为 3类:即共振荧光、非共振荧光和敏化荧光,其中以共振原子荧光最强,在分析中应用最广。共振荧光是所发射的荧光和吸收的辐射波长相同。只有当基态是单一态......
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利用原子荧光谱线的波长和强度进行物质的定性与定量分析的方法。原子蒸气吸收特征波长的辐射之后,原子激发到高能级,激发态原子接着以辐射方式去活化,由高能级跃迁到较低......
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