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LT-SPM 低温扫描探针显微镜
上海伯东代理英国 NanoMagnetics LT-SPM 低温扫描探针显微镜, 扫描探针显微镜在低温下的应用比在环境或高温下的应用更为广泛.
LT-SPM 低温扫描探针显微镜优势:
减少热漂移: 低温作业为消除与热漂有关的影响提供了最直接和可靠的途径
低噪音水平: 将温度从300k降低到10k, 可以使热频率噪声降低5倍以上, 例如, 可以在石墨等低波纹表面以原子分辨率获得三维力场
提高了和样品的稳定性
减少压电滞后/蠕变
许多物理效应于低温

LT-SPM 低温扫描探针显微镜系统参数:
Imaging Modes         : SHPM, STM, AFM, MFM, EFM, SNOM (in development)
Scan Size  Head        :  Large Area Scan Head       Standart Scan Head        Small Area Scan
                                      150 x 150 μm @ 300 K        52 x 52 μm @ 300K        8 x 8 μm @ 300 K
                                      36 x 36 μm @ 77 K              14 x 14 μm @ 77 K         3.5 x 3.5 μm @ 77 K
                                      18 x 18 μm @ 4.2 K              6 x 6 μm @ 4.2 K            1.5 x 1.5 μm @ 4.2 K
Z Range                     : 7.0 μm @ 300 K                  4.8 μm @ 300 K               2.4 μm @ 300 K
                                     1.8 μm @ 77 K                      1.2 μm @ 77 K                 0.6 μm @77K
                                      0.8 μm @ 4.2 K                     0.5 μm @ 4.2 K               0.25 μm @ 4.2K
Head Dimensions     : 23.6 mm OD x 125 mm  or  25.4 mm OD x 100 mm
Sample Approach     : Stick-slip type; 10 mm Z, ?3 mm XY range with 50 - 800 nm step size
Sample Size              : 15 x 15 x 5 mm maximum
Temperature Range : 1.0 K - 300 K (Limited by the cryogenic equipment)
Magnetic Field         : >16 T

原子力显微镜 (Atomic Force Microscope, AFM), 隶属于扫描探针显微镜 (Scanning Probe Microscope, SPM), 是一种具有原子级别高分辨, 高解像能力的科研仪器, 原子力显微镜可在真空, 气体或液体环境中操作, 适用于各种材料的表面检测, 形貌测量, 粗糙度分析及生医样品检测等.
与 STM 对比 AFM 可以观测非导电样品, 应用范围更广

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途