JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜

日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。

传统的冷场发射技术稳定性差，亮度低，无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题，并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时，能量分辨率提高到0.3eV，极大增强了原子级观察和原子级分析能力。
 
 在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven国家实验室；欧洲各国；日本的东京大学、东北大学、名古屋大学、九州大学等；中国台湾的清华大学也开始纷纷采购这一设备。中科院物理所是中国大陆的第一家用户，安装后仪器始终运行稳定，超高的分辨率和分析能力已获得大量高水平数据。

• JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜

• JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜，拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。标配照明系统球差校正器，且zei大限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性，实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 （78pm*1、82pm*2）。

产品特点：

• JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜，拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。

• STEM-HAADF像的保证分辨率（78pm^*1 ）为世界之领先性能

• 标配照明系统球差校正器，且zei大限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性，实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 （78pm*1、82pm^*2）。 此外经过球差校正的电子束与一般的场发射透射电镜相比，电流密度可以高出十倍。使用束斑更小、电流密度更大的电子束，能在进行原子水平的元素分析同时,大幅度地缩短测试时间，极大地提高分析效率。
  *1 配备冷场发射电子枪  *2 配备肖特基场发射电子枪

• 通过STEM-ABF像直接观察轻元素的原子阵列

• JEM-ARM200F标配了扫描透射环形明场(STEM-ABF)成像模式，通过STEM-ABF像能直接观察晶体样品中轻元素的原子阵列，还可以同时获取STEM-HAADF像，在样品结构的分析中能够发挥巨大威力

• 用100mm2的大面积SDD^*3进行原子分辨分析

• JEM-ARM200F配备日本电子制造的100mm²的大面积硅漂移检测器(Silicon Drift Detector:SDD)^*3，可以进行快速、高灵敏的EDS元素分析，与经过球差校正的电子束流组合，能进行原子级的元素面分布，在原子水平的分辨率下进行成份分析。
  *3 选配

• 用冷场发射电子枪^*4进行观察和分析

• 冷场发射电子枪(Cold-FEG)^*4配备新开发的真空系统，与传统的冷场发射电子枪不同，Flashing操作后可以马上使用。由于光源小可以获得更高分辨率的图像。此外冷场发射电子枪的能量发散度小，不仅能进行高分辨率的EELS分析，还能降低色差。
  *4 选配

• 成像系统球差校正器^*5

• 使用成像系统的球差校正器^*5，透射电子像(TEM)的分辨率可以高达110pm。
  *5 选配

产品规格：

JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供，如您想了解更多关于JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途