介质损耗因数测试仪GCSTD-A/B
技术规格：

极宽的温度范围：室温~1000℃，

多种型号选择： 

室温~500℃， 

室温~800℃， 

室温~1000℃

介质损耗因数测试仪GCSTD-A/B

极高的测量精度±0.1℃；

精确控温±1℃；

升温斜率：3°C /min (典型值)

测量频率：20Hz---20MHz

测量精度：0.05%

①电桥法：将被测件接在电桥的测量臂上，根据接入前后电桥平衡时电容和电阻（或相移和衰减）的变化量可以算出ε′和tanδ,这种方法可用于10～10赫的频率范围，并适于测量损耗较大的电介质。

②传输线法：将被测件与测量线终端的短路波导或同轴线相连接，通过测量接入前后驻波节点位置和驻波系数的变化量可以算出ε′和tanδ。这种方法可用于10～10赫的频率范围，适于测量损耗量中的电介质。

③谐振法：将被测件接在谐振回路（或谐振腔）中，通过测量接入前后回路电容和Q值（或腔长和Q值）的变化量可以算出ε′和tanδ。这种方法可用于10～10赫的频率范围，适于测量损耗较小的电介质。GCSTD-A/B

宽带法包括阶跃法和时域法。利用电介质对阶跃波（或电脉冲）的响应，即电介质的电特性与频域散射参数S(ω)的关系，通过时域测量和傅里叶变换求出在不同频率下的ε′和tanδ。这种方法可用于10～10赫的频率范围。

GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法

GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

 ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

二、方法概述介质损耗因数测试仪GCSTD-A/B

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

三、主要用途:介质损耗因数测试仪GCSTD-A/B

    主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）

四、应用对象:介质损耗因数测试仪GCSTD-A/B

    该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

五、技术指标:

   备注说明:

     三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号

六、电极规格介质损耗因数测试仪GCSTD-A/B

    固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm  

液体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）

粉体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）

    试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM

七、产品配置：介质损耗因数测试仪GCSTD-A/B

   1、测试主机：一台

   2、测试电感：9个

   3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）

八、其它规格：

    1、  环境温度：0℃～+40℃；   

2、相对湿度：<80％；   

3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

    4、消耗功率：约25W；   

    5、净重：约7kg；   

6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

九：9个电感规格：介质损耗因数测试仪GCSTD-A/B

警告——本试验执行期间，致命电压是一种潜在的危险。所有试验装置及电连接到其上的所有相关设备需进行适当的设计和安装以便能安全运行，这是非常重要的。试验期间个人可能接触的所有导电连接进行牢固接地。GCSTD-A/B

   在执行任何试验时，提供方式来对试验期间处于高电压的所有零件进行接地，或者对试验期间获得一个感应电荷而具有电位的所有零件进行接地，或者对甚至在电压源断开之后还保持带电荷而具有电位的所有零件进行接地。认真指导所有操作者，以使得其能采用正确的程序来安全执行试验。

   当执行高电压试验时，特别是在压缩气体或在油中测试时，在击穿时释放的能量可能足够导致试验箱发生火灾，爆炸，或者破裂。设计试验设备，试验箱和试验样本，以使得这类情况的发生可能性降至较小，同时排除人身伤害的可能性。如果存在火灾风险，则需配置灭火设备。

   介质损耗因数测试仪注2：将样本连接到测量电路所用的方法是非常重要的，特别是对于两终端测量。对于平行替代测量，试验方法D150先前推荐的临界间距连接方法可导致0.5pF的负误差。当两终端样本作为一个保护在一个试验池中进行测量时，可产生一个类似的误差。因为目前已知没有方法能用于评估该误差，当必须避免该数值的误差时，必须使用一种替代方法，也就是说，使用测微计电极，液体浸泡池，或者带受保护导线的三终端样本。GCSTD-A/B

   介质损耗因数测试仪注3：为获得电容和耗散因子而执行的测量细节说明以及由于测量电路而执行的任何必要的修正细节说明见商用设备提供的说明书所述。以下章节拟用于提供所需的补充说明。

   10.2.2 固定电极——准确地调节板间距至一个适合被测样本的值。特别对于低损耗材料，板间距和样本厚度应使得样本将占据不少于大约80%的电极间隙。对于在空气中的试验，不建议板间距小于大约0.1mm。GCSTD-A/B

   当电极间距没有调节到一个合适值时，必须制备具有合适厚度的样本。测量试验池的电容和耗散因子，然后嵌入样本，同时使得样本位于测微计电极的电极或试验池之间的中心位置。重复测量。为获得较大的精度，如果可以使用测量设备，直接测定△C和△D。记录试验温度。

   介质损耗因数测试仪背景技术：

中国专利展示了一种介电常数测量装置（专利号为：201310276389.8，授权公开号为：CN103308778A），包括槽线结构，所述槽线结构两端设置有信号接口，用于连接测试仪器和传输测试信号，槽线结构中设置有孔洞，孔洞位于槽线中，用于放置盛装被测材料的容器，测量时将被测介质放入容器中，相当于在槽线结构中嵌入被测介质，利用被测介质对微波传输特性的影响，通过分析放入被测介质前后的传输特性，得到被测介质的介电常数。GCSTD-A/B

   为了使嵌入的被测介质能够对槽线结构的传输特性产生实质性影响，提高分析测试的精确度，孔洞的大小应使放置的容器具有足够大的容积，其盛装的被测材料能够充分影响槽线结构的传输特性，但这种结构孔洞尺寸不能太大，以至于破坏了槽线结构的微带传输线特性，影响测试结果。

介质损耗因数测试仪信息由北京冠测试验仪器有限公司为您提供，如您想了解更多关于介质损耗因数测试仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途