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蔡司扫描电镜新玩法 | 轻松实现关联定位、自动成像和量化分析

发布时间: 2021-11-30 14:49 来源:卡尔蔡司(上海)管理有限公司

在使用扫描电镜的过程中,

您是否总是遭遇如下问题:

1. 在不同设备间切换样品时总需耗费大量时间重新定位感兴趣区域

2. 总是为获取大面积高分辨图像而苦恼,需要频繁切换成像参数,调整像散聚焦

3. 得到图像后又在为图像的量化分析而发愁

针对以上的困扰和需求,蔡司对扫描电镜进行了全方位武装,特别推出智能电镜解决方案,解决以上提到的所有问题,最大程度确保您日常检测和分析工作的顺畅与高效。

 

01 关联定位分析

司Connect模块轻松实现光学显微镜到扫描电镜的桥接,快速实现样品在不同设备间的重新定位,还能统一管理关联设备的数据和信息。

✓ 关联定位:通过关联样品台实现样品在不同显微镜设备之间自动关联重定位,大幅缩减操作用时

✓ 数据叠加:自由叠加来自手机,光学显微镜,扫描电镜的信息以及相关能谱信息

✓ 统一管理:管理来自不同关联设备的数据,输出不同信息叠加图像和视频

 

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▲ PCB电路板的关联显微分析(光镜,电镜,能谱信息),左:宏观图像;右:感兴趣位置局部放大


02 自动成像

蔡司SmartSEM Touch定制软件,全面兼顾参数设置,成像,自动化拼图,图像浏览,实现智能高效的扫描电镜成像。

✓ 向导式操作流程,界面简洁,操作简单

✓ 根据样品智能匹配成像参数,实现自动聚焦

✓ 简单操作即可完成高通量图像拍摄和拼接

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▲简洁的SmartSEM Touch操作界面

 

03 量化分析

蔡司ZEN模块实现从电镜图像获取,图像处理,图像分割,自动测量到报告生成的整个量化分析流程

✓ 一键获取扫描电镜图像,向导式的分析工作流程,毫无经验的新手也可轻松掌握

✓ 基于机器学习的ZEN Intellesis模块轻松实现传统阈值方法难以达成的图像处理需求

✓ 丰富的测量功能,如颗粒统计分析,孔隙率,含量百分比,层厚测量,晶粒度评级等

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▲量化分析界面-二值化分割

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▲金属焊接位置孔隙大小分析及含量分析

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▲金属焊接位置孔隙大小分析及含量分析

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颗粒分析

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▲晶粒度评级

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▲含量百分比

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层厚测量
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▲孔隙率分析


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