蔡司场发射扫描电子显微镜 Sigma系列

[ 产品简介 ]

蔡司新一代场发射扫描电子显微镜Sigma系列，具有高质量的成像和分析能力，将先进的场发射扫描电子显微镜技术与优秀的用户体验完美结合。利用Sigma系列直观的4步工作流程，在更短的时间内获得更多的数据，提高测试与生产效率。可选配多种探测器，以满足半导体、能源等新材料、磁性样品、生物样品、地质样品等不同的应用需求。结合蔡司原位电镜实验平台，可以实现自动智能化的原位实验工作流程，高效率获取高通量、高质量的原位实验数据。领先的EDS几何设计保证了出色的元素分析性能，分析速度高、精度好、结果可靠。高分辨、全分析、多扩展、强智能、广应用，全新Sigma系列是助力于材料研究、生命科学和工业检测等领域的“多面手”。

[ 产品特点 ]

ü  独特的Gemini镜筒设计，低电压高分辨，无漏磁

ü  广泛全面的应用场景

ü  丰富灵活的探测手段

ü  智能高效的工作流程

ü  先进可靠的分析系统

ü  强大完善的扩展平台

[ 应用领域 ]

ü  材料科学，如纳米材料高分辨成像，高分子聚合物等不导电样品成像，电池材料成分衬度成像，二维材料分析

ü  生命科学，如生物样品超微结构成像，冷冻样品高分辨成像

ü  地质矿物学，如地质样品高分辨成像、成分分析以及原位拉曼联用分析

ü  工业应用，如组件失效分析，工艺诊断

ü  电子半导体行业，如质量控制与分析，6英寸Wafer快速换样，电子束曝光技术（EBL）

ü  钢铁行业，如夹杂物分析，金属材料自动原位成像分析

ü  刑侦、法医学

考古学、文物保护与修复

aBSD探测器超导合金成像

InLens SE探测器氧化锆&氧化铁复合材料成像

ETSE探测器氧化锌枝晶成像

Sense BSD探测器刺毛苔藓虫超微结构成像

氧化铝颗粒高分辨二次电子成像

NanoVP lite模式下断裂的聚苯乙烯表面成像

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途