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安捷伦科技（中国）有限公司
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蔡司扫描电镜（SEM）
蔡司双束电镜 Crossbeam 550 Samplefab Crossbeam 550 Samplefab
双束电镜
蔡司双束电镜 Crossbeam 550 Samplefab
[产品简介]
蔡司双束电镜 Crossbeam 550 Samplefab，作为一款专为半导体行业TEM样品制备开发的高端聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM），提供优异的灵活性、自动化功能和用户友好设计，帮助半导体行业的样品制备更加简便高效。
[产品特点]
l 行业标准软件界面
l 优化配置提升设备和软件稳定性
l 全自动TEM样品制备体验
l 原位（in-situ, lift-out）与非原位（ex-situ, pick-up）灵活可用
l 高质量的自动与手动制样
[应用领域]
电子和半导体行业，失效分析及TEM样品制备。
【应用案例】
分别使用全自动非原位（ex-situ, pick-up）与原位（in-situ, lift-out）制样的 TEM 薄片样品
手动最终减薄的 7nm 工艺处理器，平面 TEM 薄片
使用 Crossbeam 内 STEM 探测器拍摄
蔡司双束电镜 Crossbeam 550 Samplefab由卡尔蔡司(上海)管理有限公司 为您提供，如您想了解更多关于蔡司双束电镜 Crossbeam 550 Samplefab报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途。
