• 典型应用

• 各种器件的I-V功能测试和特征分析，包括：




• 分立和无源元件




• – 两抽头器件——传感器、磁盘驱动器头、金属 氧化物可变电阻（MOV）、二极管、齐纳二极 管、电容、热敏电阻




• – 三抽头器件——小信号双极结型晶体管（BJT）场效应晶体管（FET），等等




• 简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传感 器、转换器、稳压器




• 集成器件——小规模集成（SSI）和大规模集成（LSI） – 模拟IC




• – 射频集成电路（RFIC）




• – 专用集成电路（ASIC）




• – 片上系统（SOC）器件




• 光电器件，例如发光二极管（LED）、激光二极管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面发射激光器 （VCSEL）、显示器




• 圆片级可靠性




• – NBTI、TDDB、HCI、电迁移




• 太阳能电池




• 电池




• 更多…

• 一、       通用设置      1.     NPLC     2.     接线方式（2、4线制）     3.     自动调零4.     滤波




• 二、       单阶恒流输出测量（BiasIMeasureV-Single） 




• 三、       单阶恒压输出测量（BiasVMeasureI-Single） 




• 四、       多阶恒流输出测量（BiasIMeasureV-Steps）  




• 五、       多阶恒压输出测量（BiasVMeasureI-Steps）  




• 六、       分段电流扫描（SweepIMeasureV-Section）   




• 七、       分段电压扫描（SweepVMeasureI-Section）   




• 八、       连续电流扫描测量（SweepIMeasureV-Continuity）     




• 九、       连续电压扫描测量（SweepVMeasureI-Continuity）     




• 十、       双通道电流同步扫描（Dual-SweepIMeasureV）   




• 十一、    双通道电压同步扫描（Dual-SweepVMeasureI）   




• 十二、    波形输出-正弦波（Wave-Sine）     




• 十三、    波形输出-方波（Wave-Square）     




• 十四、    电化学-循环伏安（Cyclic voltammetry）测量




• 十五、    电化学-多电流跃阶测量（Multi-Current Steps）   




• 十六、    电化学-多电位跃阶测量（Multi-Potenital Steps） 




• 十七、    太阳能电池IV特性测量（Solar Cell IV） 




• 十八、    双通道恒流恒压测量（Dual Channel IV）-     




• 十九、    直流FET-转移曲线测量（DC-FET-Transfer） 




• 二十、    直流FET-输出曲线测量（DC-FET-Output）  




• 二十一、 脉冲FET-转移曲线测量（Pulse-FET-Transfer）    




• 二十二、 脉冲FET-输出曲线测量（Pulse-FET-Output）      




• 二十三、 直流FET栅极方波曲线测量（DC- FET- Gate- Square Wave）   




• 二十四、 流FET漏极方波曲线测量（DC- FET- Drain- Square Wave）       

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途