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瑞士梅特勒-托利多超越系列XP分析电子天平

参考报价: 面议 型号: XP105DR/XP205/XP205DR/XP204/XP504/XP504DR
品牌: 暂无 产地: 暂无
关注度: 14 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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安全可靠, 无可替代
随着超越系列XP天平的诞生, 梅特勒-托利多在分析天平领域树立起了又一里程碑。顶尖的创新技术带来了空前的称量性能,在人员,样品和数据安全方面设置了新的标准。
功能和特点
SmartGrid: 不寻常的称量特性,革新性的网格秤盘,将室内空气气流干扰降至zei低.实现zei快的称量结果显著降低天平的稳定时间.
SmartSens: 实现无需用手接触的天平操作. 操作人员可以全神贯注的进行样品的安全处理, 避免溢出, 并将污染的风险zei小化.
SmartSens红外感应器:SmartScreen彩色触摸显示屏,引导用户正确操作,触摸屏技术使得称量操作异常便捷.
LevelControl:天平未被置平时发出警告,始终保证结果的准确性.
连通性:灵活的通讯接口 包括以太网,蓝牙(无线连通)和PS/2-高效率地采集数据和简单地整合入网络。
 
 
去静电装置(可选):有效的中和样品吸附的静电荷从而避免样品的污染.
XP分析天平 XP205 zei大称量值:220g
可读性:0.01mg
重复性:±0.03mg
线性误差:±0.1mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:2.5s
秤盘尺寸:78*73mm
XP分析天平 XP105DR zei大称量值:31/120g
可读性:0.01/0.1mg
重复性:±0.015/0.06mg
线性误差:±0.15mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:1.5s
秤盘尺寸:78*73mm
XP分析天平 XP205DR zei大称量值:81/220g
可读性:0.01/0.1mg
重复性:±0.015/0.06mg
线性误差:±0.15mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:1.5s
秤盘尺寸:78*73mm
XP分析天平 XP204 zei大称量值:220g
可读性:0.1mg
重复性:±0.07mg
线性误差:±0.2mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:1.5s
秤盘尺寸:78*73mm
XP分析天平 XP504 zei大称量值:520g
可读性:0.1mg
重复性:±0.12mg
线性误差:±0.4mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:1.5s
秤盘尺寸:78*73mm
XP分析天平 XP504DR zei大称量值:101/520g
可读性:0.1/1mg
重复性:±0.1/0.6mg
线性误差:±0.5mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:1.5s
秤盘尺寸:78*73mm

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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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