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分析测试百科网 > 精微高博 > 比表面积分析仪 > 比表面及孔隙率测试仪JW-122F

比表面及孔隙率测试仪JW-122F

参考报价: 面议 型号: JW-122F
品牌: 精微高博 产地: 北京
关注度: 548 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
价格范围10万-30万
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

仪功能
 比表面测定:    BET(单点、多点)、Langmuir、外表面测定;
 BJH孔径分布测定:    总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布;
 微孔常规分析:    微孔总孔体积、总内表面积(t-图、D&R、MP等)
 微孔孔径分布分析:    氮分压10-8 - 10-1范围的等温吸附曲线测定                                           0.35 - 2nm微孔孔径分布测试(HK、FS、NLDFT法
 
技术参数
 测定仪原理方法:  低温氮吸附,静态容量法
 测定仪吸附气体:  高纯氮气,也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体
 测定仪极限真空:  ≤ 10-6 Pa ( 7.5×10-9  Torr)
 测定仪氮气分压:  1×10-8 –0.995
 测定仪控制精度:  测试压力点控制zei小间隔可小于0.1 KPa (0.75  Torr) ,测试压力点可多达一千个
                          多级压力传感器压力测试精度达0.0001Pa (7.5×10-7 Torr)
                          10-8-10-1范围测试压力点大于50点
 测定仪测试范围: 0.005 M2/g,无规定上限
                          介孔孔径分析 2 - 400nm
                          微孔孔径分析0.35 - 2nm
 测定仪测试精度:  ≤±1.5%
                            0.35-2nm 微孔zei可几孔径重复误差 ≤0.01nm
 测定仪测试效率:  多点BET比表面每样平均20min
                         孔径分析时间随材质不同各异
 测定仪预 处 理: 两样品同位处理,真空低于0.1Pa, 温度50 - 400℃,±1℃
 测定仪专用软件: BET(单点、多点)、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、
                          HK、FS、NLDFT等
 

 


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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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