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岛津PM2.5有害物质解决方案
ICP-OES法测定碳化硅粉末中的微量元素含量
发布时间：
2021-12-16 15:07
来源：
岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司
| 领域： | 电子/电器/半导体 | ||
| 样品： | 电子元器件 | 项目： | 化学性质 |
| 参考： | GB/T 37254-2018《高纯碳化硅 微量元素的测定》 | ||
| 方案文件名 | 下载 |
|---|---|
ICP-OES法测定碳化硅粉末中的微量元素含量 |
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ICP-OES抗基体能力强，精密度高，分析速度快；ICPE-9820垂直炬管设计，可有效减少样品残留和防止炬管积碳积盐，适用于碳化硅中元素成分分析测定；轴向和径向双向观测可以实现外加剂中高低含量元素的同步测定。ICPEsolution软件具有软件后添加功能，可以实现最有波长推荐，并进行数据诊断。
