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【在线讲座】详解超快速新型材料表征技术PP-TOFMS——4月4日
等离子体分析飞行时间质谱仪（PP-TOFMS）是一款新型材料表征技术，用于超快速、元素组分的深度剖析。
此次网络讲座将通过诸多实例为您展示研发过程中PP-TOFMS从薄膜和器件的生长到加工中表现的分析潜力。
加入会议，你将：
熟识PP-TOFMS的基本特征（分析速度、灵敏度和分辨率）
了解PP-TOFMS和目前熟知的表面化学分析技术（如XPS, SIMS, SEM-EDX, RBS）间的互补性
了解PP-TOFMS在快速表面&深度分析中的强大功能
谁需要参加？
从事材料研究的学术专家及研发工程师，如半导体、微电子、光电及光伏材料研究
计量管理人员及计量工程师；表面分析专家；XPS、SIMS、AES用户等
讲师
Agnès Tempez, PhD
PP-TOFMS产品经理，HORIBA Scientific
Yann Mazel
计量工程师
Emmanuel Nolot, PhD
首席计量师，CEA-LETI
时间
4月4日 星期二
10:00 AM / 5:00 PM（欧洲夏令）
报名
点击左下角“阅读原文”报名直达（国外系统打开较慢，请耐心等待）：
https://events.r20.constantcontact.com/register/eventReg?oeidk=a07edumvafd61969351&oseq=&c=&ch=
联系我们
电话：33-169747200
邮箱：live-sci.fr@horiba.com
HORIBA一直致力于为用户普及光谱基础知识，其旗下的Jobin Yvon有着近200年的光学、光谱经验，我们非常乐意与大家分享这些经验，为此特创立 Optical School（光谱学院）。无论是刚接触光谱的学生，还是希望有所建树的研究者，都能在这里找到适合的资料及课程。
我们希望通过这种分享方式，使您对光学及光谱技术有更系统、全面的了解，不断提高仪器使用水平，解决应用中的问题，进而提升科研水平，更好地探索未知世界。
