您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
诚信认证:
扫一扫,加入掌上光谱学堂
400-6699-117转1000
在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。
技术参数:
·可实现快速、实时在线监测样品膜层变化
主要特点:
将激发和探测头引入生产设备,可实现:
· 动态模式:实时监测膜厚变化
· 光谱模式:监测薄膜的界面和组分
In-situ series 在线椭偏仪信息由HORIBA科学仪器事业部为您提供,如您想了解更多关于In-situ series 在线椭偏仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途
堀场HORIBAUVISEL 椭偏仪 介孔硅复合材料
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪 适用于厚度,光学常数,各向异性
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数
UVISEL 堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 使用MM-16型椭圆偏振光谱仪表征阳极氧化铝表面
椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 可检测纳米级厚度的高k介电材料
HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪堀场HORIBA 应用于电子/半导体
HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
型号:UVISEL
我要咨询
Copyright ©2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved