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参考报价: | 面议 | 型号: | HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 |
品牌: | 堀场HORIBA | 产地: | 日本 |
关注度: | 暂无 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 |
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点击查看下载HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪激光粒度仪 SZ-100 系列纳米颗粒分析仪 - 中文相关资料,进一步了解产品。
SZ-100系列采用动态光散射原理(DLS)测量粒径大小及分布,实现了超宽浓度范围的样品测量,不论浓度是ppm级还是高达百分之几十,均可准确测量。可使用市售样品池。测量微量样品也极为方便。同时,使用HORIBA独创的微量样品池,样品量仅需100μL。通过Zeta电位值可以预测及控制分散体系的稳定性。zeta电位越高意味着分散体系越稳定,对于配方研究工作意义重大。
SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。
SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。
· 同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数
· 宽检测范围,宽浓度范围——样品浓度可达40%
· 自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定
· 软件操作简单功能强大,一键测量
· 双光路双角度粒径测量(90° 和173°)
· 采用微量样品池
粒径测量原理:动态光散射法(光子相关光谱法)
粒径测定范围:0.3nm ~10μm
粒径测量精度:±2%(NIST 可溯源标准粒子100nm)
Zeta 电位测量原理:激光多普勒电泳法
Zeta 电位测量范围:-500 mV ~ +500 mV
分子量测量原理:Debye plot
分子量测量范围:1000 ~ 2×107 Da
测量角度:90° 和173°(可自动或手动选择)
样品量:12μL ~ 1000μL
HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪激光粒度仪 SZ-100 系列纳米颗粒分析仪 - 中文信息由HORIBA科学仪器事业部为您提供,如您想了解更多关于HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪激光粒度仪 SZ-100 系列纳米颗粒分析仪 - 中文报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途