HORIBA科学仪器事业部
400-6699-117转1000
热门搜索：
分析测试百科网 > HORIBA Scientific > 应用文献 > Features and Benefits of Pulsed RF GD OES for fast control of LED manufacturing process
黄金会员
诚信认证:
工商注册信息已核实！
扫一扫即可访问手机版展台
扫一扫，加入掌上光谱学堂
扫一扫，加入掌上光谱学堂
Features and Benefits of Pulsed RF GD OES for fast control of LED manufacturing process
发布时间：
2016-08-12 16:06
来源：
HORIBA科学仪器事业部
| 领域： | 电子/电器/半导体 | ||
| 样品： | LED | 项目： | GD-OES(Simultaneously Measures All Elements，Depth Resolution) |
| 参考： | None | ||
| 方案文件名 | 下载 |
|---|---|
Features and Benefits of Pulsed RF GD OES for fast control of LED manufacturing process |
下载此篇方案 |
脉冲式射频辉光放电光谱仪体可进行超快速元素深度剖析，并且对所有的元素都有高的灵敏度，是快速控制LED活性镀层的理想工具，它为快速反馈过程参数飘移提供了可能。
