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使用MM-16椭圆偏振光谱仪表征并五苯有机薄膜晶体管

发布时间: 2016-09-22 10:11 来源: HORIBA科学仪器事业部
领域: 电子/电器/半导体
样品:并五苯有机薄膜晶体管项目:厚度

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使用MM-16椭圆偏振光谱仪表征并五苯有机薄膜晶体管

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Spectroscopic Ellipsometry based on the liquid crystal devices is an excellent technique for the highly accurate characterization of organic semiconductor in OTFTs device in the visible range.


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