CIT-3000SMD(B) X荧光分析仪

一、应用领域

有色、黑色冶金、矿山样品分析，水泥全元素检测等。

二、性能特点：

♦　样品平台自动升降，工作十分方便；

♦ 样品盘自动旋转，测量面积更大，并能最大限度的消除颗粒误差和不均匀误差；

♦　抽真空测量，可以更大限度的提高测量元素的检测限，有利于多金属测量及其他轻元素测量；

♦　先进的模块化设计理念，保证了仪器后续的高扩展性；

♦　采用低功率X光管端窗前直径更大，对样品具有更好的激发效率；

♦　更先进的硅漂移SDD电制冷半导体探测器，分辨率和计数率更高，有利于要求更高或更复杂的样品分析。

三、仪器技术指标

（1）测量范围：1-40kev；

（2）可分析元素范围：Na-U；

（3）分析含量范围：1ppm-99.99%；

（4）分辨率：优于130Ev；

（5）最低检出限：Pb≤5ppm；

（6）工作环境温度：0-40℃；

（7）工作环境相对湿度：≤80%（不结露）

（8）测量时间：10-2550s（时间可调）

（9）输入电源：AC 220V ±10%，50Hz；

（10）额定功率：300W；

（11）探测器类型：采用最新的高性能电制冷硅漂移SDD探测器；

（12）500万像素的CCD摄像头，可有效的实现观察测试区域状况，并拍下物料照片，可作为检测报告的组成部分；

（13）仪器尺寸：600(W)×570(D)×570(H)mm

（14）样品腔尺寸：样品腔：300*300*100mm

（15）重量：约100Kg

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途