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Si片外延AIN薄膜 (Si+AlN dia4")

参考报价: 面议 型号: Si片外延AIN薄膜 (Si+AlN dia4")
品牌: 合肥科晶 产地: 美国
关注度: 7 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

产品名称:

Si片外延AlN膜

产品简介:

Si片外延AlN膜是通过HVPE方法生长,其实验衬底效果已日渐取代AlN单晶基片

技术参数:

AlN厚度:200nm ±10%,

 单面镀膜正面: <2nm RMS,    as-grown背面:silicon as receivedAlN晶向:(00.2)     

 宏缺陷密度:<10/cm^2

薄膜衬底:Si [111] N type,  dia 4"  x0.5 mm, 

电阻res: 1~10 ohm-cm, 单抛

 

常规尺寸:

dia 4" x0.5 mm,单抛;

标准包装:

1000级超净室,100级超净袋或单片盒封装


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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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