您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?

稍后再说 立即咨询
贝克曼库尔特商贸(中国)有限公司
400-6699-117转1000
热门搜索:
分析测试百科网 > 贝克曼库尔特 >  粒度分析仪 > 贝克曼库尔特薄膜Zeta电位分布分析仪

贝克曼库尔特薄膜Zeta电位分布分析仪

参考报价: 面议 型号: DelsaNano C
品牌: 贝克曼库尔特 产地: 美国
关注度: 1229 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
准确性- 200 mV ~ +200 mV
咨询留言 在线咨询

400-6699-1171000

AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

仪器简介:


        目前能测量固体或薄膜材料的液固介面ZETA电位的仪器很少。而应用电泳光散射的方法,测量液、固介面Zeta电位的仪器仅有贝克曼库尔特公司zei新上市的DelsaNano系列。 

        DelsaNano C是目前惟一的应用电泳光散射及动态光散射原理,同时提供颗粒Zeta电位分布、固体及薄膜液-固表面Zeta电位分布和纳米粒度分布的分析仪。DelsaNnao通过特别设计的固体平板样品池,有效精确地为固体材料、纤维材料、薄膜材料等提供ZETA电位分析。为广大的新材料研究、生产提供先进的、多用途的分析工具。


技术参数:

测量范围: 

1.适合测量各种固体、薄膜、纤维等;

3.ZETA电 势:- 200 mV ~ +200 mV 

4.电迁移率:-10μm・cm/sec・V ~ 10 μm・cm/sec・V 

5.可配合自动滴定仪进行动态pH滴定测量

光 源: 

     双固体激光,30 mW 

探测器: 

     高性能光电倍增管 

样品池: 

    固体平板样品池


主要特点:

1.测量固液界面ZETA电位,惟一的应用电泳光散射的技术;

2.操作简单,方便快捷;

3.静态测量与动态测量;

4.待测样品无须特别处理;

5通过探测粒子准确推算表面ZETA电位;

6.分辨率高;

7.同时获得粒子ZETA电位与固体表面ZETA电位;


有效解决了样品高浓度测量的问题,真正解决了小角度正面测量所困扰的多重散射的障碍。是目前惟一的一种能获得高浓度纳米粒度分布与高浓度zeta电位分布的仪器。

1.新一代ELS仪器,采用FST透明电极专利,背散射技术。

2.zei广阔的浓度范围:由低浓度至高浓度。

3.惟一的一种能获得高浓度zeta电位分布与高浓度纳米粒径分布的仪器 

4.多角度测量 

5.自动滴定:动态检测Zeta电位、纳米粒径随Ph值的变化 

6.自动滴定仪可直接由软件控制,备有三个独立滴管,自动计算IEP,自动绘制Zeta电位与pH值的比较图,没有哪种其它类似仪器能够满足以上所有要求。


    DelsaNano C 宽动态(高浓度)纳米粒度分析仪:纳米技术与基因技术、网络技术一起被并称为二十一世纪的“三剑客”, 各国在纳米材料的研究上均投入了极大的人力物力。中国已建立3个国家级的纳米研究中心。 

    DelsaNano C  宽动态(高浓度)纳米粒度分析仪 纳米颗粒的表征主要集中在粒径与表面电势。Zeta电位可以很好地反映颗粒间作用强度,从而可用来预测胶体系统的稳定性。分散体系的Zeta电位 会因为Ph值、电导率、添加剂和颗粒表面的变化而改变。 

    一直以来,市场上许多纳米仪由于采用90度测量,仅能在大倍数稀释样品的状态下分析只能获得平均值,不能进行原液或高浓度样品的测量。因高浓度样品于90度测量时存在多重散射现象而无法获得数据。颗粒粒径极易因环境影响而改变,大倍数稀释往往导致溶液体系稳定性变化。测到的结果无法反应真实状态。 

    DelsaNano C 采用专利的FST技术(透明电极正向散射)与背散射技术,很好地解决了由低浓度到高浓度样品Zeta电位的测量与纳米粒径分布测量的难题。DelsaNnao C宽动态(高浓度)Zeta电位及纳米粒度分析仪是已知的惟一能够测量浓缩样品中微粒zeta电位分布与纳米粒径分布的仪器。 


DelsaNano C  宽动态(高浓度)Zeta电位分析及纳米粒度分析仪

性能特点: 

★ 当前惟一的应用电泳光散射原理满足自极低浓度至高浓度Zeta电位测量的仪器

★ 当前惟一的应用电泳光散射原理测量固体平面或薄膜平面Zeta电位的仪器,可通过固液介面Zeta电位分析,表征吸附力或附着力。(此项为可选项)

★ 大角度测量(背散射技术)高浓度样品的纳米粒径

★ 同时满足zei新的ISO 22412标准及旧的ISO13321 标准

★ 纳米粒径测量范围:0.6 nm ~ 7 μm

★ Zeta电位测量范围:-200mV ~ +200mV

   粒径的适合范围:0.6 nm ~ 30 μm

★ 宽动态的纳米粒径测量浓度范围:0.001%~40%

★ 宽动态的Zeta电位测量浓度范围:0.001%~40%

★ 电迁移率:-1.2x10-3 cm2/ V.s ~ +1.2x10-3 cm2/ V.s

★电导率:zei大可至200mS/cm

★ 电压范围:0伏 ~ 300伏

★ 分子量:1x 103 ~ 3x107 道尔顿

★ 测量原理:光子相关光谱法(动态光散射),电泳光散射法

★ 分析模式:粒径:COTIN、NNLS及Marquardt ;

Zeta电位:Smoluchowski、Huckel及other (input value)

★ 应用技术:背散射技术、FST 透明电极专利技术;

平面样品池测量技术(可选项)

★ 固体激光:双光源,波长658nm, 功率30 mW

★ 检测器:高性能光电倍增管(PMT),真正的光子计数器

★ 相关器:对数相关器、线性相关器;zei大1,000,000等效通道;

★ 具有时域法及时间间隔法模式,可准确探测极稀浓度或小于3nm纳米样品的单个光子信号。

★ 样品池:高浓度样品池、流动样品池、标准粒径池;固体平面样品池(可选项)

★一次性样品池:避免不同样品间的污染

★石英玻璃样品池:适用普通样品及有机溶剂样品,比插入式的更少的干扰、更低的成本。

★ 多角度分析:165°、15°及30°

★ 自动电子温控:低于环境温度15℃~ 90℃;温度精度:±0.1℃;若采用低温状况测量,可使用氮气吹扫,以防止样品池镜片冷凝,保证正常的测量。

★ 具备智能32级自动衰减和手动设定功能

★ 智能寻找及定位zei佳信号位置

★ 实时监控显示测量纳米粒径、Zeta电位的整个过程

★ 可升级配置固体或薄膜平面Zeta电位测量模块(此项为可选项),以作固液介面Zeta电位分析。提供新颖的平面固体材料、薄膜材料的吸附力、附着力表征方法。

★ 选择配置自动滴定仪(此项为可选项)可动态分析。动态测量Zeta电位或粒度随PH酸度值、离子浓度或混合物浓度等的不同引起的变化趋势,自动描绘滴定曲线。

★ 自动滴定仪配有氮气吹扫装置以保护样品与空气隔离,防止样品氧化。

★ 测量样品的PH值范围:1~13

★ 操作及分析软件:

1)图形化软件设计、支持窗口拖放、个性化安排功能窗口;

2)SOP设计师功能,使纳米粒径分析、Zeta电位分析中的运行参数、分析参数、样品池参数及稀释液参数均可自动按设置好的SOP程序运行;

3)单峰分析及多峰分析功能;

4)再分析功能:可对原始数据进行参数调整后的重新分析;

5)丰富的分析模式:光强-粒径分布、体积-粒径分布、数目-体积分布的平均值、峰值、D10、D50、D90等的曲线及列表;迁移率分布、Zeta电位分布等;

6)提供PDF打印报告格式;

7)可批量导入、导出原始数据。


贝克曼库尔特薄膜Zeta电位分布分析仪信息由贝克曼库尔特商贸(中国)有限公司为您提供,如您想了解更多关于贝克曼库尔特薄膜Zeta电位分布分析仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

贝克曼库尔特薄膜Zeta电位分布分析仪 - 下载资料
移动版: 资讯 直播 仪器谱

Copyright ©2007-2023 ANTPEDIA, All Rights Reserved

京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号