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牛津仪器科技（上海）有限公司
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | Ultim Max TLE |
| 品牌： | 牛津仪器 | 产地： | 英国 |
| 关注度： | 1138 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 探测器种类 | 硅漂移探测器（SDD） |
| 探测器面积 | 80mm2 | 最大计数率 | >200,000 cps |
| 峰背比 | 200000:1 | 能量分辨率 | 125eV |
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Ultim Max TLE
我们TEM的旗舰款SDD能谱探测器，经过设计优化，提高了小束斑下的计数率，可表征原子尺度的元素信息。
这一性能是通过优化的晶体形状，100mm2大面积晶体，无窗结构，优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的。
0.5 - 1.1srad的立体角
对低能量x射线的灵敏度可提高8倍
可在400,000cps的计数率下进行定量分析
在原位实验中，在高至1000°C的温度下采集谱图
Ultim Max TEM
用于纳米尺度分析和元素面分布的SDD能谱探测器。
在任何情况下，使用新型的中端80mm2传感器都能更接近样品，提供更多的X射线计数。结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 为 200kV下EDS分析提供高质量数据。
0.2 - 0.6 srad的立体角
对低能量x射线的灵敏度可提高8倍
可在400,000cps的计数率下进行定量分析
在原位实验中，在高至1000°C的温度下采集谱图
Xplore TEM
专门为120kV和200kV TEM的常规应用而设计的SDD能谱探测器。
使用新的 80 mm2 传感器，聚合物薄窗口和低噪音电子元器件 , 提供快速和准确的元素表征。
0.1 - 0.4 srad的立体角
从Be到Cf的元素检测
可在200,000cps的计数率下进行定量分析
SATW窗口为广泛的应用提供了更大的便利性
牛津仪器X-Max TEM 大面积硅漂移探测器信息由牛津仪器科技（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于牛津仪器X-Max TEM 大面积硅漂移探测器报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
