牛津仪器X-MaxTEM大面积硅漂移探测器

Ultim Max TEM，搭载于透射电子显微镜(TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析。

全新设计80mm2的传感器，进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 为 200kV下EDS分析提供高质量数据。

·       0.2 - 0.6 srad的立体角

·       对低能量x射线的灵敏度可提高8倍

·       可在400,000cps的计数率下进行定量分析

在原位实验中，可在1000°C的温度下采集谱图




旗舰款SDD传感器Ultim Max TLE，搭载于透射电子显微镜(TEM)，经过设计优化，提高了小束斑下的计数率，可表征原子尺度的元素信息。

这一性能是通过优化的晶体形状，100mm2大面积晶体，无窗结构，优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的。

    0.5 - 1.1srad的立体角

    对低能量x射线的灵敏度可提高8倍

    可在400,000cps的计数率下进行定量分析

在原位实验中，在高至1000°C的温度下采集谱图




Xplore TEM是专门为120kV和200kV 透射电镜（TEM）的常规应用而设计的元素分析系统。使用新的 80mm2 传感器和聚合物薄窗口及低噪音电子元器件 , 为用户提供快速和准确的元素表征。

    0.1 - 0.4 srad的立体角

    从Be到Cf的元素检测

    可在200,000cps的计数率下进行定量分析

SATW窗口为广泛的应用提供了极大的便利性

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途