400-6699-117转2002
您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
分析测试百科网 认证会员,请放心拨打!
参考报价: | 面议 | 型号: | X-Max TEM |
品牌: | 牛津仪器 | 产地: | 中国 |
关注度: | 1061 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 | |
价格范围 | 50万-60万 |
探测器面积 | 80mm2 | 最大计数率 | 200000 |
峰背比 | 200000:1 | 分辨率 | 123eV |
400-6699-117转2002
为了探测穿透能力较强的γ射线,要求探测器有更大的灵敏区。这种效果通常是使锂漂移进入p型半导体材料,进行补偿而获得。
Ultim Max TEM,搭载于透射电子显微镜(TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析。
全新设计80mm2的传感器,进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 为 200kV下EDS分析提供高质量数据。
· 0.2 - 0.6 srad的立体角
· 对低能量x射线的灵敏度可提高8倍
· 可在400,000cps的计数率下进行定量分析
在原位实验中,可在1000°C的温度下采集谱图
旗舰款SDD传感器Ultim Max TLE,搭载于透射电子显微镜(TEM),经过设计优化,提高了小束斑下的计数率,可表征原子尺度的元素信息。
这一性能是通过优化的晶体形状,100mm2大面积晶体,无窗结构,优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的。
0.5 - 1.1srad的立体角
对低能量x射线的灵敏度可提高8倍
可在400,000cps的计数率下进行定量分析
在原位实验中,在高至1000°C的温度下采集谱图
Xplore TEM是专门为120kV和200kV 透射电镜(TEM)的常规应用而设计的元素分析系统。使用新的 80mm2 传感器和聚合物薄窗口及低噪音电子元器件 , 为用户提供快速和准确的元素表征。
0.1 - 0.4 srad的立体角
从Be到Cf的元素检测
可在200,000cps的计数率下进行定量分析
SATW窗口为广泛的应用提供了极大的便利性
牛津仪器X-MaxTEM 硅漂移探测器(SDD)信息由牛津仪器科技(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于牛津仪器X-MaxTEM 硅漂移探测器(SDD)报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途