牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Polymer Materials的检测。可以用在纳米材料行业领域中的Polymer Materials项目。

聚合物添加剂分析

X-MaxN TSR

这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有着非常好的采集效率，尤其是对于轻元素，意味着所有能量都有更多的计数配置、极靴和TEM相关。TEM中EDS探测器性能中一个重要的指标是立体角。这取决于电镜和极靴设计。对于X-MaxN TSR，我们优化了探测器和样品之间的距离来提高立体角。

• 适用于传统的200kV场发射TEM

• 轻元素的收集效率提高了3倍

• 在低能量X射线采集方面，峰背比或分辨率方面没有降低

X-MaxN 100TLE

• X-Max N 100TLE作为我们TEM SDD探测器的旗舰产品，为纳米科学领域的场发射和球差校正透射电镜提供了可靠的解决方案

• X-Max N 100TLE采用改进的晶体形状，无窗配置和创新的机械设计，可提供真正的“创新一代”SDD性能。这种组合对所有元素提供了非常高的灵敏度

• 例如，当在与传统检测器相同的条件下，它将检测到更低含量的元素，从而有效地分析纳米级别的杂质和掺杂剂 

• 在电子束敏感样品降解之前收集更多数据，将纳米颗粒和纳米管细节分析推向新的水平

X-MaxN 80T

用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术，是一款真正的“新一代”SDD

• X-Max N TEM探测器采用新的低噪声探测器设计，具有出色的分辨率和灵敏度 - 即使在高计数率下也是如此

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