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参考报价: | 面议 | 型号: | SE-VE |
品牌: | 沈阳科晶 | 产地: | 辽宁 |
关注度: | 779 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 |
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产品简介:SE-VE 是一款超高性价比、快速测量光谱椭偏仪,紧凑集成设计,使用简便,可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。高性价比光学椭偏测量解决方案,紧凑集成化设计,极致用户操作体验,一键快速测量分析,人机交互设计,使用便捷,丰富的数据库和几何结构模型库,保证强大数据分析能力,广泛应用于科研/企业中各种单层到多层薄膜膜厚以及光学常数等快速表征分析。
产品型号 | SE-VE光谱椭偏仪 | |
主要特点 | 1、采用高性能进口复合光源,光谱覆盖可见到近红外范围 (400-800nm) 2、高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置,实现Psi/Delta光谱数据高速采集 3、数百种材料数据库、多种算法模型库,涵盖了目前绝大部分的光电材料 | |
技术参数 | 1、自动化程度:固定角 2、应用定位:经济型 3、基本功能:Psi/Delta、N/C/S、R等光谱 4、分析光谱:400-800nm 5、单次测量时间:0.5-5s 6、重复性测量精度:0.05nm 7、光斑大小:大光斑1-3mm 8、入射角调节方式:固定角 9、入射角范围:65° 10、找焦方式:手动找焦 11、Mapping行程:不支持 12、支持样件尺寸:最大至160mm | |
可选配件 | 1 | 温控台 |
2 | 真空泵 | |
3 | 透射吸附组件 |
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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途