通知 | OmniScan X3 MXU / 5.2.0 新版本现已上线

发布时间： 2020-06-11 19:02 来源：仪景通光学科技（上海）有限公司

▲OmniScan X3

信心满满，昭然可见！这是奥林巴斯OmniScan X3探伤仪向用户传递的产品理念。这句话有何深意？它们恰当地描述了OmniScan仪器的强大性能：用户可以根据仪器屏幕上显示的信息，充满信心地做出正确的判读。

日前，奥林巴斯发布可用于OmniScan X3 探伤仪的软件升级版本：

OmniScan X3 MXU / 5.2.0，中国用户可以前往我们的官网进行下载更新。

5.2.0 中的新功能

1. 可离线编辑扫查偏置

可从扫查计划、采集以及在分析过程中离线编辑扫查偏置

2. 可离线编辑的探头方向和步进偏置

3. 可离线编辑的TOFD的调色板（亮度和对比度）

4. 在现场或分析过程中可离线编辑闸门

5. 可离线编辑分析增益

6. TFM TTT-TT设置帮助检测管外径缺陷

标签：	探伤仪，TOFD，TFM