彼奥德技术总监杨正红先生作为中国代表团出席第56届ISO/TC24/SC4国际标准化会议

发布时间： 2019-05-09 09:24:13 来源：彼奥德

国际音乐之都，以阿尔卑斯山脉及优美自然环境享誉盛名的奥地利，于2019年4月迎来来自世界各地的60余位专家委员相聚一堂。国际标准化组织颗粒表征筛分法以外的粒度分析方法技术委员会(ISO/TC24/SC4)第56次会议于4月12-13日在山城格拉茨举行，对颗粒表征技术的国际标准进行制定与修订。颗粒表征国际标准制定及修订彼奥德技术总监仪思奇(北京)科技发展有限公司总经理杨正红先生，作为中国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会委员(SAC/TC168)，参加中国代表团并出席本次会议，代表中国参加：第3工作组(WG3,孔径分布和孔隙率)第8工作组(WG8,图像法粒度分析)第14工作组(WG14,超声法粒度分析)第17工作组(WG17,zeta电位测定方法)等相关领域的标准讨论和修订。杨正红先生成为ISO/TC24/SC4注册会员杨正红总经理欧洲之旅

杨正红先生在德国参加全球规模最大的粉体机械加工及分析技术展(POWTECH 2019)之后，前往奥地利参加ISO会议。会议期间，杨正红先生与ISO官员Dr.Matthias Thommes教授(埃尔朗根-纽伦堡大学,FAU,图左)和Dr.Andrei Dukhin(美国分散技术公司CEO,图左右)进行了学术交流，并就对中国用户的超声粒度分析应用支持达成一致。