一、    主要特点

(1)、可对C(6)-Fm(100)(次ppm~100%)进行无损定性、定量分析；

(2)、采用专利WAG(Wide Angle Geometry)技术，配备8个二次靶；

(3)、8款管滤光片，更快更精确的测定微量及痕量元素；

(4)、标准配置硅漂移探测器SDD，适于高和低原子序数的元素分析检测；

(5)、针对轻原子序数元素，可配备分辨率达123eV的SDD LE探测器；

(6)、外型坚固耐用，适于移动实验室，符合冲击试验MIL810E规格；

(7)、检测光斑可变，适于不同尺寸和形状的样品检测；

(8)、配备集成电脑、专业nEXt™分析软件，操作方便；

二、二次靶激发技术介绍

二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景，提高信噪比，降低检测器的检测限。如图，样品为含少量Cr，Mn，Fe杂质的Ni合金。当直接激发时(绿)，杂质元素的吸收信号被Ni元素的吸收信号淹没；相反，使用Ni二次靶激发时，杂质元素的吸收信号被大大加强。

三、主要技术参数

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途