400-6699-117转1000
咨询列表
铂悦仪器（上海）有限公司
您好，欢迎您查看分析测试百科网，请问有什么帮助您的？
| 参考报价： | 面议 | 型号： | VIT |
| 品牌： | FSM | 产地： | 美国 |
| 关注度： | 80 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 产地类别 | 进口 | 供应商性质 | 生产商 |
| 供应商性质 | 区域代理 | 产地类别 | 进口 |
| 仪器功能 | 晶圆测试 |
400-6699-117转1000
硅片表面形貌测量VIT系列
NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, top & bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height
-Edge trim profile
3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌测量
Film Stress薄膜应力量测仪
FEOL Electrical Characterization 电学特性
Thin wafer metrology 晶圆测量学
Film Adhesion漆膜附着力测试
NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, top & bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height
-Edge trim profile
马上联系我们：021-37018108，info@boyuesh.com
硅片表面形貌测量VIT系列信息由铂悦仪器（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于硅片表面形貌测量VIT系列报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
