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铂悦仪器（上海）有限公司
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | Map |
| 品牌： | semiconsoft | 产地： | 美国 |
| 关注度： | 85 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 |
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Map薄膜厚度测绘仪用于测量厚度分布，评价薄膜厚度的均一性，可与所有MProble系列的薄膜测厚仪联用。
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚合物涂层(聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
Map薄膜厚度测绘仪用于测量厚度分布，评价薄膜厚度的均一性，可与所有MProble系列的薄膜测厚仪联用。
厚度测绘台包含：
1. XY电动载物台，行程：150mm/200mm/300mm
2. 19英寸铝制底座
3. 探头适配器
4. 载物台控制器
5. 厚度拼图软件
薄膜厚度分布图（厚度以颜色标示）：
厚度测绘软件：
Map薄膜厚度测绘仪信息由铂悦仪器（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于Map薄膜厚度测绘仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
