仪器简介：
飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三维样品的元素，分子等结构信息。

技术参数：
. 并行探测所有离子，包括有机和无机分子碎片。
. 无限的质量探测范围（实际测量中大于1000m/z 原子量单位）。
. 完全透过率下实现高的质量分辨率。
. 极高的横向和纵向空间分辨率（横向小于100纳米，纵向小于1纳米）。
. 探测灵敏度可达ppm或ppb量级。
. 质量探测分辨率(M/ΔM) >1000
. 质量探测准确度 ≥20 milli 质量单位
. 反射性分析器
. 5 分钟样品腔真空度可从大气环境达到真空工作环境

主要特点：
.  超高的表面灵敏度(1x109 atoms/cm2)
·  操作简单(½ day training)
· 1 分钟分析，样品处理流程 <7分钟
· 导体和绝缘体表面均可测试
· 可得到元素和分子信息
· 从元素中分离出普通有机物
· 正电和负电的 二次离子质谱
· 同位素分析
· 分析面积 ~0.5 mm
·  溅射预清洗表面
· 提供材料数据库

专业科研型飞行时间二次离子质谱



MS-1000 简易型飞行时间二次离子质谱，专业用于表面分析

• MS-1000 台式型，用于固体表面分子结构定性分析

• MS-1000 是飞行时间二次离子质谱，属于静态模式的SIMS，对于样品表面的分子非常敏感

• MS-1000 相比其它SIMS，比较便宜，性能价格比高，方便使用，15分钟可以得到样品表面信息。

• MS-1000专业设计用于质量控制和错误诊断，生产时的指标监测，以及其它表面分析手段做不到的领域.

• 质谱分析仪和离子枪设计成一体，使得MS-1000 成为全球zei小的静态二次离子质谱!

MS-1000应用领域包括:

• 分析涂层中的胶黏剂以及复合材料
• 半导体制备中的污染，药物生产的准备和环境监测
• 生物体兼容性测试
• 快速检测等离子体对样品表面的处理和改性
• 涂料中预处理的有机粘合剂分析

飞行时间二次离子质谱信息由科睿技术发展有限公司为您提供，如您想了解更多关于飞行时间二次离子质谱报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途