超高真空表面分析系统(低能量电子衍射谱/俄歇谱)

仪器简介：
全球专业的高真空表面分析设备制造商，为各个领域的客户提供完善的薄膜分析解决方案.

相关设备：
1.高分辨电子能量损失谱仪(HREELS)；
2.低能量电子衍射仪(LEED)；
3.电子能量分析器(CMA)；
4.俄歇谱仪；(Auger)
感谢厦门大学化学系，中科院物理所使用此设备做表面研究！！

技术参数：
高分辩电子能量损失谱仪:
超高分辨率:0.5 meV FWHM
保证传感器电流不小于10pA at 1.0 meV resolution (FWHM) 
使用new electrostatics deflectors with controlled angular aberrations*
低噪音数字式控制电子,由菜单驱动软件控制
用户自己选择能量扫描范围(zei大到 50 eV)  for vibronic/electronic applications 

Reverse View LEED / Auger
Reverse View LEED是世界上zei早的商业化LEED装置。经过十余年的生产研发经验的积累，Reverse View LEED已经发展成为具有优秀的性能、极佳的稳定性和丰富的软件的LEED装置，而且衍生出了一系列其它LEED型号。
● 电子束能量范围0 ~ 3500 eV
● 可视角度达102度
● 可选配AES (Auger electron spectroscopy) 功能，能量分辨率好于0.5% FWHM ( Combination LEED and Auger control electronics with integral lock-in amplifier)
● 可选Video LEED对LEED图形进行采集和分析，以及I(V)、I(t)分析
● 可选W-Th灯丝或LaB6灯丝

MCP-LEED (Micro-channel plate control electronics)
MCP-LEED采用了高灵敏度的多通道板设计，专门用于要求极低的一次电子束流的分析中，例如敏感材料、绝缘体等。
● 极低的一次电子束流，0.1 ~ 30 nA
● zei多两级多通道板
● 可视角度达70度
● 极低的噪声水平和极高的稳定性

主要特点：
•温度控制器：基底加热
•LN2 or CW 冷却系统
•离子泵+钛升华泵：超高真空
•机械泵+分子涡沦泵
•带自动样品递送的Loadlock样品加载系统

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途