Phenom扫描电镜 Phenom Pro可以用在其他化工行业领域，用来检测有机颗粒样品，可完成有机颗粒样品扫描电镜分析项目。符合多项行业标准扫描电镜，台式电镜，台式扫描电镜，桌面扫描电镜，颗粒样品扫描电镜，。

飞纳台式扫描电镜颗粒统计分析测量系统（Phenom Particle Metric），简称颗粒系统，由荷兰 Phenom-World 公司发布于 2013 年 11 月。颗粒系统通过颗粒与背景衬度的差异对颗粒进行图像识别，在获取 SEM 图像的同时可以获取所有颗粒的形貌数据，例如直径、等效面积、等效体积、圆度等。并且可以将这些数据进行统计。颗粒探测范围：100 nm - 0.1 mm，颗粒探测速度高达 1000 颗/分。

飞纳台式扫描电镜

1997年FEI和飞利浦电子光学宣布合并其全球业务

2008年台式扫描电子显微镜飞纳(Phenom)进入中国市场
2012年飞纳(Phenom）台式扫描电镜全球销最突破2000台
2013年飞纳（Phenom)发布第三代台式扫描电镜，放大倍数
10万倍，分辨率优于8nm 

17世纪荷兰光学天才:Antoni van Leeuwenhoek设计并制造世界第一台光学显微镜 

19世纪Anton和Gerard Philips在荷兰埃因霍温创建了飞利浦公司

1947年LePoole教授为Dorgelo教授展示荷兰第一台扫描电子显微镜

飞纳(Phenom)主要特点

一长寿命/高亮度/低色差CeB6灯丝

一表面细节丰富的高质量图片

一内置彩色光学显微镜

一自动马达样品台

一30秒快速成像，操作简单

一光学与低倍电子双重导航

一防震设计，对放置环境无牛条殊要求

一样品仓低真空技术，直接观测绝缘体，}c需喷金

一四分割高灵敏度背散射电子探头，兼得样品表面

  形貌与成份信息

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途