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ARE X残余奥氏体测试的结构特点

发布时间: 2023-01-19 00:24:58 来源:利曼科技

1. 射线管位置及检测器位置固定,在保证测试快速的同时,可有效减少维护区域。

2. 专业高清USB摄像机安装在GNR ARE X系统内部,辅助对齐样品所测试区域。

3. 提供多种不同规格的样品架以匹配不同形状的样品。

4. 一旦样品载入样品架,关闭舱门,激光自动测量样品表面位置,可通过连接到Z台的旋钮手动校准。

大利GNR公司是一家老牌的欧洲光谱仪生产商,其X射线产品线诞生于1966年,经过半个多世纪的开发和研究,该产品线已经拥有众多型号满足多个行业的分析需求。
X射线衍射仪(XRD)可测试粉末、薄膜等样品的晶体结构等指标,多应用于分子结构分析及金属相变研究;而全反射X荧光光谱仪(TXRF)的检测限已达到皮克级别,其非破坏性分析特点应用在痕量元素分析中,涉及环境、医药、半导体、核工业、石油化工等行业;为迎合工业市场需求而设计制造的专用残余应力分析仪、残余奥氏体分析仪,近年来被广泛应用在高端材料检测领域,其操作的便捷性颇受行业青睐。

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