这种技术特点,使得全反射X射线荧光(TXRF)与其他传统元素分析技术相比,有着诸多优势,见下表:
通常,固体样品必须经过研碎或消解等步骤,对于超痕量组分来说,还需要对基体进行分离或破坏。因此,用于其他原子光谱的前处理方法,如AAS或ICP-OES等中所使用的消解、富集、冻干、萃取、络合等都可用于TXRF。对于样品量特别小的样品,为避免污染,关键步骤还需要在洁净室内进行。样品分析流程图如下:
下表中给出了一些样品的前处理方法:
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工商注册信息已核实!这种技术特点,使得全反射X射线荧光(TXRF)与其他传统元素分析技术相比,有着诸多优势,见下表:
通常,固体样品必须经过研碎或消解等步骤,对于超痕量组分来说,还需要对基体进行分离或破坏。因此,用于其他原子光谱的前处理方法,如AAS或ICP-OES等中所使用的消解、富集、冻干、萃取、络合等都可用于TXRF。对于样品量特别小的样品,为避免污染,关键步骤还需要在洁净室内进行。样品分析流程图如下:
下表中给出了一些样品的前处理方法: