诚信认证:
In-Plane Measurement of Thermal Diffusivity of Copper Thin Film
美国TA Discovery HP-TGA 750 高压热重分析仪 用于高分子材料研究
型号:Discovery HP-TGA 750
我要咨询
美国TA Discovery HP-TGA 磁悬浮高压热重分析仪 用于地质领域
上一篇
TA仪器_在单个高分辨率质谱仪平台…电解液设计 EN
下一篇
In-Plane Measurement of Thermal Diffusivity of Graphite Thin Film
您还没有登录,登录后继续,播放窗口在您完成接下来的步骤后才会出现。
如果您设置了验证问答,请点击这里登录,登录完成后,再返回这里开始播放。
您的个人资料不完整,请补充完整后继续。
Copyright ©2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved