您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?

稍后再说 立即咨询
先锋科技股份有限公司
400-6699-117转1000
热门搜索:
分析测试百科网 > 先锋 > 光谱部件及外设 > X射线线阵探测系统

X射线线阵探测系统

参考报价: 面议 型号: XDAS
品牌: 暂无 产地: 暂无
关注度: 156 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
咨询留言 在线咨询

400-6699-1171000

AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?
仪器简介:

X射线线阵探测系统由硅光二极管阵列和闪烁晶体组成,以实现对射线能量的探测。二极管阵列可以是一维或者两维扫描方式,由具体应用来决定。选择探测器需充分考虑了光谱响应,电容,暗电流,灵敏度,探测面积以及串扰的影响,选用与闪烁晶体的发射波段相匹配的探测器,并尽可能降低暗噪声,减小偏移量,获得zei好的响应。同时,让各探测单元的探测面积和串扰达到zei优化。



技术参数:

XDAS-V2系列---小于1Mev

探测器间距 0.4mm,0.8mm,1.6mm,2.5mm
晶体类型 Silicon,Gadox (Tb),CsI (Tl),CdWO4
积分时间(单次采样) 100us – 50ms
信噪比  30000:1 (XDAS-V2-1.6,不带探测器,10pF)
25000:1 (XDAS-V2-1.6,带上探测器,10pF)
zei大数据读出速率 20MB/s
串扰  <0.1%(10pC增益)
数据输出位  16 Bit
输出接口  USB、千兆以太网或标准图像采集卡

  
 
 XDAS-HE系列---大于450Kev 

探测器间距  2.5mm,其他尺寸可根据客户要求定制
晶体类型  Silicon,Gadox (Tb),CsI (Tl),CdWO4
积分时间(单次采样)  320us – 1s
电子噪声  6ppm (不带探测器,350pC) 
25ppm (带上探测器,350pC)
zei大数据读出速率 40MB/s
线性  <0.1%
A/D转换位 20 Bit
输出接口 USB, PCI数据采集卡或千兆以太网



 



主要特点:

XDAS-V2系列---小于1Mev
采用专利的小信号搜集技术,产品质量好,性能稳定。多种探测器间距(0.4mm,0.8mm,1.6mm,2.5mm等)、单能/双能可选,晶体的种类和尺寸可选。模块化设计,每套系统中zei多包含7块SP板,每块SP板可连接24块DH板,zei高21500个探测通道。16bit 数据输出。信噪比高,不带探测器的信噪比可达30000:1。扫描速度快,100us的脉冲成型时间。多种信号输出接口可选。

XDAS-HE系列---大于450Kev 
具有2.5mm或更大的探测间距、高动态范围(50pC-350pC)、20bit的AD转换,40MB/s的读出速率、可探测高达6MV的高能射线,非常适合运用在大型集装箱(Co60式)和高能射线探测等领域。总探测长度可做到3m以上。系统长度一般为3到4米,但可以根据需要进行加长。

LINX系统---X射线探测系统 
LINX系统是含机械外壳的无损检测信号数据采集系统,通常使用XDAS-V2数据采集板。LINX的外壳是铝合金材料,附有铅板,避免辐射对电子器件的伤害。同时,有一个石墨窗口的准直器,以减少对X射线的吸收。系统可以根据不同应用来进行定制,探测器间距有0.4mm,0.8mm和1.6mm可选,探测长度可根据客户要求来做。

 

X射线线阵探测系统信息由先锋科技股份有限公司为您提供,如您想了解更多关于X射线线阵探测系统报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

X射线线阵探测系统 - 产品推荐
移动版: 资讯 直播 仪器谱

Copyright ©2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved

京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号