金埃谱孔径分析仪V-Sorb 4804 (独立四站)

V-Sorb4804系列比表面积及孔径分析仪采用金埃谱科技自主研发的静态容量法测量原理。产品整体性能更加完善，测试准确性和一致性进一步提高，测试过程更加稳定，达到国际同类产品先进水平。V-Sorb4804系列比表面积及孔隙度测试仪设计更加人性化，操作界面简单易学，采用合资或进口零配件，提高了产品可靠性和使用寿命。测试功能包括静态容量法、吸附及脱附等温线测定、BET法比表面积测定、Langmuir法比表面积测定、BJH总孔体积及孔径分析等。真空系统集集装式管路及电磁阀控制系统，大大减小管路死体积空间，提高检测吸附气体微量变化的灵敏度。测试模式集成“单一氮气测试模式”和“氮气+氦气标准测试模式”，提高了测试的准确性和一致性。液位控制采用V-Sorb独创的液氮面控制系统，确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变，消除测量误差。样品数量可以同时进行4个样品分析和处理，系统必需相互独立，并且必需可以同时进行，确保测试的精度。压力测量采用多支进口硅薄膜电容式压力传感器对压力进行分段的测量，真空泵可以实现外置和内置放置。样品类型包括粉末、颗粒、纤维及片状材料等。数据处理采用Windows兼容数据处理软件，操作简单，结果报表更加直观。产品规格：尺寸长70×宽70×高85(CM)，重量60公斤，电压交流220V，电流5A。产品特点包括真空系统的一体化集装式管路系统、模块化结构设计和德国进口双级真空泵。B. 控制系统使用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统，抗干扰能力强，稳定性大大提高，安装拆卸方便；
独特设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构，有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染。

C. 为了提高测试精度，我们采用了与同类进口产品相同品牌的高精度硅薄膜电容式压力传感器。压力测量精度为相应读数的 0.15％，远远优于 0.15％ 的全量程精度(FS) 传感器。此外，我们还采用了 8 支 0-1000 Torr (0-133Kpa) 及 4 支 0-1 Torr (0-0.133Kpa) 压力传感器，以对测试范围内的压力进行分段测量，大大降低了低真空下的测量误差。同时，我们还引入了独创的一体化集装式管路系统，以及步进式液氮面控制系统，确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变，消除因死体积变化引入的误差。此外，我们还设计了抽气及进气控制系统，有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅，保护高精度压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移。

D. 数据采集及处理采用高精度及高集成度数据采集模块，连接方便，误差小，抗干扰能力。采用业界标准的485通讯模式，有利于设备扩展和互连，可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式。提供多种理论计算模型数据分析，为用户提供全方位材料分析方案。有强大的测试数据归档保存，查询系统，利于数据管理。

V-Sorb4804P比表面积及孔径分布测试仪核心技术：比表面积及孔径分布测试仪管路独立系统，应用领域包括超微粉体、纳米材料、颗粒及纤维状材料比表面积、孔隙及孔径分布分析测定；粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测；高校及研究型科研单位的材料研究及测试工作，吸附科学及BET(Brunauer-Emmett-Teller)、BJH(Barrett-Joyner-Halenda)等众多理论教学实验；电池材料、催化剂、添加剂、吸附剂、陶瓷烧结材料、磁性材料、储能材料等相关性能测定；其他与材料表面性能相关的研究工作。测试报告。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途